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辐射杂散RSE测试的控制方法、测试系统及存储介质
被引:0
申请号
:
CN202211005062.2
申请日
:
2022-08-22
公开(公告)号
:
CN115622634A
公开(公告)日
:
2023-01-17
发明(设计)人
:
魏永涛
申请人
:
申请人地址
:
518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401
IPC主分类号
:
H04B1710
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人
:
黎家璐
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-17
公开
公开
2023-02-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/10 申请日:20220822
共 50 条
[1]
辐射杂散测试方法、装置、存储介质及测试系统
[P].
熊先平
论文数:
0
引用数:
0
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0
熊先平
.
中国专利
:CN108512613B
,2018-09-07
[2]
辐射杂散功率测试系统、方法及测试系统的控制方法
[P].
熊宇飞
论文数:
0
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0
熊宇飞
;
万思嘉
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万思嘉
;
陈天伟
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陈天伟
;
史锁兰
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0
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史锁兰
;
刘宝殿
论文数:
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刘宝殿
;
张夏
论文数:
0
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0
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张夏
;
臧琦
论文数:
0
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0
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0
臧琦
;
周镒
论文数:
0
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0
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0
周镒
.
中国专利
:CN111351991A
,2020-06-30
[3]
辐射杂散测试方法及装置、测试系统
[P].
周意保
论文数:
0
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0
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0
周意保
.
中国专利
:CN110601773B
,2019-12-20
[4]
辐射杂散测试系统及测试方法
[P].
贾焕宇
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市德普华电子测试技术有限公司
深圳市德普华电子测试技术有限公司
贾焕宇
.
中国专利
:CN113721083B
,2024-02-23
[5]
辐射杂散测试系统及测试方法
[P].
贾焕宇
论文数:
0
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0
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0
贾焕宇
.
中国专利
:CN113721083A
,2021-11-30
[6]
辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法
[P].
魏延全
论文数:
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魏延全
;
吴学文
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吴学文
;
齐昊
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齐昊
;
廖建明
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廖建明
;
邓建坤
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邓建坤
;
罗彪
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罗彪
;
彭静
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0
彭静
.
中国专利
:CN111010242B
,2020-04-14
[7]
辐射杂散测试设备、测试方法、计算机设备及存储介质
[P].
伍震
论文数:
0
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伍震
;
刘学
论文数:
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0
刘学
.
中国专利
:CN113608035A
,2021-11-05
[8]
辐射杂散的测试方法及装置、电子装置及可读存储介质
[P].
熊先平
论文数:
0
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0
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0
熊先平
.
中国专利
:CN108366161B
,2018-08-03
[9]
多天线辐射杂散测试系统
[P].
杨红波
论文数:
0
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杨红波
;
陈俊飞
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陈俊飞
;
熊麟彪
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熊麟彪
;
杨邦
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杨邦
;
廖斌
论文数:
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0
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0
廖斌
.
中国专利
:CN115037389A
,2022-09-09
[10]
多天线辐射杂散测试系统
[P].
杨红波
论文数:
0
引用数:
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机构:
扬芯科技(深圳)有限公司
扬芯科技(深圳)有限公司
杨红波
;
陈俊飞
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机构:
扬芯科技(深圳)有限公司
扬芯科技(深圳)有限公司
陈俊飞
;
熊麟彪
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机构:
扬芯科技(深圳)有限公司
扬芯科技(深圳)有限公司
熊麟彪
;
杨邦
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机构:
扬芯科技(深圳)有限公司
扬芯科技(深圳)有限公司
杨邦
;
廖斌
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机构:
扬芯科技(深圳)有限公司
扬芯科技(深圳)有限公司
廖斌
.
中国专利
:CN115037389B
,2024-01-26
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