一种用于测试集成电路的治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320164063.1

申请日：

2013-03-22

公开(公告)号：

CN203101439U

公开(公告)日：

2013-07-31

发明(设计)人：

钱培玉

申请人：

申请人地址：

314001 浙江省嘉兴市中创电气商贸园14幢428室

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-05-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101609131992 IPC(主分类):G01R 1/04 专利号:ZL2013201640631 申请日:20130322 授权公告日:20130731 终止日期:20140322
2013-07-31	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路测试治具 [P].

孙玉龙 .

中国专利 :CN221612911U ,2024-08-27

[2]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[3]

一种集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

周学志 ;

谢清冬 .

中国专利 :CN207067178U ,2018-03-02

[4]

用于集成电路测试的承载治具 [P].

王秀军 ;

顾耀 ;

杨征 ;

郝纬 ;

王濬腾 .

中国专利 :CN207611070U ,2018-07-13

[5]

一种集成电路测试治具 [P].

高宗英 ;

田治峰 ;

贺涛 ;

高凯 ;

王强 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN203376446U ,2014-01-01

[6]

一种集成电路测试治具 [P].

李志丽 ;

徐广德 .

中国专利 :CN220305441U ,2024-01-05

[7]

一种用于集成电路测试的承载治具 [P].

方经军 .

中国专利 :CN211122953U ,2020-07-28

[8]

一种用于集成电路测试的承载治具 [P].

谢文杰 ;

罗圣军 .

中国专利 :CN220473578U ,2024-02-09

[9]

一种用于集成电路测试的承载治具 [P].

王彬 ;

张昊 .

中国专利 :CN223244631U ,2025-08-19

[10]

一种可调集成电路测试治具 [P].

李凤文 .

中国专利 :CN117890772A ,2024-04-16

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