一种高效率研磨抛光GaN晶片的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510182104.3
申请日
2015-04-16
公开(公告)号
CN106141900A
公开(公告)日
2016-11-23
发明(设计)人
刘南柳 陈蛟 张国义
申请人
申请人地址
523518 广东省东莞市企石镇科技工业园
IPC主分类号
B24B3710
IPC分类号
H01L21306 H01L3300
代理机构
代理人
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
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