缺陷检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580017049.0

申请日：

2015-03-17

公开(公告)号：

CN106133504A

公开(公告)日：

2016-11-16

发明(设计)人：

新家英正

申请人：

申请人地址：

日本福井市

IPC主分类号：

G01N2184

IPC分类号：

D05B5100 G01N2188

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

徐冰冰;黄剑锋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-04-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101716005151 IPC(主分类):G01N 21/84 专利申请号:2015800170490 申请日:20150317
2016-11-16	公开	公开
2019-05-14	授权	授权

共 50 条

[1]

缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法 [P].

山本修平 ;

中西秀信 ;

植木章太 .

中国专利 :CN102279189B ,2011-12-14

[2]

缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P].

太田佳成 .

中国专利 :CN101251496A ,2008-08-27

[3]

缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P].

山崎隆一 .

中国专利 :CN101600957A ,2009-12-09

[4]

缺陷检测装置、缺陷检测方法 [P].

永田泰昭 ;

佐藤雄伍 .

中国专利 :CN104350381B ,2015-02-11

[5]

校准装置、缺陷检测装置、缺陷修复装置、校准方法 [P].

中西秀信 ;

山本修平 ;

植木章太 .

中国专利 :CN102202226B ,2011-09-28

[6]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

梅红伟 ;

涂彦昕 ;

胡伟 ;

刘健犇 ;

刘立帅 ;

王黎明 .

中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19

[7]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

张勤 ;

付翔宇 ;

李国军 .

中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30

[8]

缺陷检测装置、缺陷修正装置及缺陷检测方法 [P].

大庭博明 .

中国专利 :CN103630542A ,2014-03-12

[9]

缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

杨航 .

中国专利 :CN117808765A ,2024-04-02

[10]

缺陷检测方法以及缺陷检测装置 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

中国专利 :CN107462581B ,2017-12-12

← 1 2 3 4 5 →