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一种IGBT模块高温反偏试验装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120176176.8
申请日
:
2021-01-22
公开(公告)号
:
CN214201668U
公开(公告)日
:
2021-09-14
发明(设计)人
:
胡久恒
代凯旋
胡久旺
安浙文
申请人
:
申请人地址
:
311122 浙江省杭州市余杭区闲林街道裕丰路7号5号楼4层
IPC主分类号
:
G01R3126
IPC分类号
:
G01R3100
G01R104
代理机构
:
杭州广奥专利代理事务所(特殊普通合伙) 33334
代理人
:
吴昊
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-09-14
授权
授权
共 50 条
[1]
一种IGBT模块高温反偏实验系统
[P].
胡久恒
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胡久恒
;
代凯旋
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代凯旋
;
胡久旺
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胡久旺
;
安浙文
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安浙文
.
中国专利
:CN112858867A
,2021-05-28
[2]
一种兼具上下桥同时监控功能的IGBT模块高温反偏设备
[P].
刘晓静
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刘晓静
;
刘晓晓
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刘晓晓
.
中国专利
:CN215297560U
,2021-12-24
[3]
一种高温反偏试验监控柜
[P].
胡久恒
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胡久恒
;
安浙文
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安浙文
.
中国专利
:CN211785917U
,2020-10-27
[4]
IGBT模块高温反偏老化测试系统
[P].
刘年富
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刘年富
.
中国专利
:CN214703868U
,2021-11-12
[5]
一种用于IGBT模块高温反偏试验的接线板
[P].
车湖深
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车湖深
;
李彦莹
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李彦莹
;
何剑
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何剑
.
中国专利
:CN207719420U
,2018-08-10
[6]
IGBT功率模块反偏试验组件
[P].
鲁长贺
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鲁长贺
;
曲赫然
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曲赫然
;
刘志伟
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刘志伟
.
中国专利
:CN214473736U
,2021-10-22
[7]
一种用于高温反偏试验装置的散热定位结构
[P].
刘晓静
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刘晓静
;
刘晓晓
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刘晓晓
.
中国专利
:CN214845612U
,2021-11-23
[8]
IGBT模块高温反偏老化测试系统
[P].
袁锋
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袁锋
;
盛楠
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盛楠
;
唐德平
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唐德平
.
中国专利
:CN307087767S
,2022-01-28
[9]
一种肖特基二极管高温反偏试验装置
[P].
陈钊
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机构:
宜兴杰芯半导体有限公司
宜兴杰芯半导体有限公司
陈钊
;
陈俊标
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机构:
宜兴杰芯半导体有限公司
宜兴杰芯半导体有限公司
陈俊标
.
中国专利
:CN221326687U
,2024-07-12
[10]
一种肖特基二极管高温反偏试验装置
[P].
孔凡伟
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孔凡伟
;
段花山
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段花山
;
朱坤恒
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朱坤恒
.
中国专利
:CN207181612U
,2018-04-03
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