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IGBT模块高温反偏老化测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120701864.1
申请日：
2021-04-07
公开(公告)号：
CN214703868U
公开(公告)日：
2021-11-12
发明(设计)人：
刘年富
申请人：
申请人地址：
311107 浙江省杭州市余杭区仁和街道永泰路2号16幢
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266
代理人：
沈相权;金磊
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-11-12 | 授权 | 授权 |