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高低温反偏老化测试系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120996723.7
申请日
:
2021-05-11
公开(公告)号
:
CN215180578U
公开(公告)日
:
2021-12-14
发明(设计)人
:
刘年富
申请人
:
申请人地址
:
311107 浙江省杭州市余杭区仁和街道永泰路2号16幢
IPC主分类号
:
G01R3100
IPC分类号
:
G01R3152
G01R104
代理机构
:
杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266
代理人
:
沈相权;金磊
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-14
授权
授权
共 50 条
[1]
高低温反偏老化测试系统及其控制方法
[P].
刘年富
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘年富
.
中国专利
:CN113238111A
,2021-08-10
[2]
高低温振动老化测试箱
[P].
王京
论文数:
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0
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0
机构:
深圳市京琦精密技术有限公司
深圳市京琦精密技术有限公司
王京
.
中国专利
:CN220691026U
,2024-03-29
[3]
高低温老化测试机
[P].
黄爱科
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黄爱科
;
金承标
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金承标
;
廖小波
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廖小波
;
蒋琦
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蒋琦
;
罗鑫
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罗鑫
.
中国专利
:CN217981739U
,2022-12-06
[4]
微波器件高温反偏老化测试系统
[P].
陈益敏
论文数:
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0
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0
陈益敏
.
中国专利
:CN214750606U
,2021-11-16
[5]
IGBT模块高温反偏老化测试系统
[P].
刘年富
论文数:
0
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0
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0
刘年富
.
中国专利
:CN214703868U
,2021-11-12
[6]
雷达高低温老化测试机
[P].
顾耿纶
论文数:
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顾耿纶
.
中国专利
:CN217181207U
,2022-08-12
[7]
一种高低温可靠性老化测试的测试系统
[P].
杨俊
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机构:
成都万创科技股份有限公司
成都万创科技股份有限公司
杨俊
;
魏波
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机构:
成都万创科技股份有限公司
成都万创科技股份有限公司
魏波
.
中国专利
:CN223139736U
,2025-07-22
[8]
IGBT模块高温反偏老化测试系统
[P].
袁锋
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袁锋
;
盛楠
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盛楠
;
唐德平
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唐德平
.
中国专利
:CN307087767S
,2022-01-28
[9]
脉冲反偏测试系统
[P].
吴志刚
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吴志刚
;
刘年富
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刘年富
;
陈益敏
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陈益敏
.
中国专利
:CN218122174U
,2022-12-23
[10]
一种高低温闪存测试系统
[P].
张浩明
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张浩明
;
李四林
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李四林
.
中国专利
:CN211016547U
,2020-07-14
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