高低温反偏老化测试系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202120996723.7
申请日
2021-05-11
公开(公告)号
CN215180578U
公开(公告)日
2021-12-14
发明(设计)人
刘年富
申请人
申请人地址
311107 浙江省杭州市余杭区仁和街道永泰路2号16幢
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
G01R3152 G01R104
代理机构
杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266
代理人
沈相权;金磊
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
高低温反偏老化测试系统及其控制方法 [P]. 
刘年富 .
中国专利 :CN113238111A ,2021-08-10
[2]
高低温振动老化测试箱 [P]. 
王京 .
中国专利 :CN220691026U ,2024-03-29
[3]
高低温老化测试机 [P]. 
黄爱科 ;
金承标 ;
廖小波 ;
蒋琦 ;
罗鑫 .
中国专利 :CN217981739U ,2022-12-06
[4]
微波器件高温反偏老化测试系统 [P]. 
陈益敏 .
中国专利 :CN214750606U ,2021-11-16
[5]
IGBT模块高温反偏老化测试系统 [P]. 
刘年富 .
中国专利 :CN214703868U ,2021-11-12
[6]
雷达高低温老化测试机 [P]. 
顾耿纶 .
中国专利 :CN217181207U ,2022-08-12
[7]
一种高低温可靠性老化测试的测试系统 [P]. 
杨俊 ;
魏波 .
中国专利 :CN223139736U ,2025-07-22
[8]
IGBT模块高温反偏老化测试系统 [P]. 
袁锋 ;
盛楠 ;
唐德平 .
中国专利 :CN307087767S ,2022-01-28
[9]
脉冲反偏测试系统 [P]. 
吴志刚 ;
刘年富 ;
陈益敏 .
中国专利 :CN218122174U ,2022-12-23
[10]
一种高低温闪存测试系统 [P]. 
张浩明 ;
李四林 .
中国专利 :CN211016547U ,2020-07-14