一种用于测量材料光学特性的光学装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201980069615.0
申请日
2019-10-22
公开(公告)号
CN113167728A
公开(公告)日
2021-07-23
发明(设计)人
拉斐尔·拉拜拉德 安娜·安德烈妮
申请人
申请人地址
法国沃勒维兰莫里斯·奧丹街3号69120
IPC主分类号
G01N2157
IPC分类号
代理机构
深圳市六加知识产权代理有限公司 44372
代理人
李于明
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法 [P]. 
前田穣 .
中国专利 :CN107709941A ,2018-02-16
[2]
光学特性测量装置 [P]. 
关口瑛士 ;
清水晋二 ;
高桥诚 .
中国专利 :CN108369155A ,2018-08-03
[3]
光学特性测量装置及光学特性测量方法 [P]. 
小野修司 .
中国专利 :CN105473999B ,2016-04-06
[4]
一种材料光学特性测量装置 [P]. 
潘建根 .
中国专利 :CN105424615A ,2016-03-23
[5]
一种材料光学特性测量装置 [P]. 
潘建根 .
中国专利 :CN205808911U ,2016-12-14
[6]
光学特性测量装置 [P]. 
大久保和明 ;
白岩久志 .
中国专利 :CN103575508A ,2014-02-12
[7]
光学特性测量装置 [P]. 
安藤利典 .
中国专利 :CN102735427A ,2012-10-17
[8]
光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P]. 
山崎雄介 ;
冈本宗大 .
中国专利 :CN102954765B ,2013-03-06
[9]
光学特性测量装置以及光学特性测量方法 [P]. 
石丸伊知郎 .
中国专利 :CN103403528A ,2013-11-20
[10]
用于测量物体的光学特性的设备 [P]. 
伯恩德特·沃姆 ;
斯蒂芬·施密特 ;
克劳迪娅·格舍博特 ;
克里斯托夫·德尼茨基 .
中国专利 :CN103415243A ,2013-11-27