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一种用于测量材料光学特性的光学装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201980069615.0
申请日
:
2019-10-22
公开(公告)号
:
CN113167728A
公开(公告)日
:
2021-07-23
发明(设计)人
:
拉斐尔·拉拜拉德
安娜·安德烈妮
申请人
:
申请人地址
:
法国沃勒维兰莫里斯·奧丹街3号69120
IPC主分类号
:
G01N2157
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市六加知识产权代理有限公司 44372
代理人
:
李于明
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-23
公开
公开
2021-11-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/57 申请日:20191022
共 50 条
[1]
光学特性测量装置以及光学特性测量装置的设定方法
[P].
前田穣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
前田穣
.
中国专利
:CN107709941A
,2018-02-16
[2]
光学特性测量装置
[P].
关口瑛士
论文数:
0
引用数:
0
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0
关口瑛士
;
清水晋二
论文数:
0
引用数:
0
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0
清水晋二
;
高桥诚
论文数:
0
引用数:
0
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0
高桥诚
.
中国专利
:CN108369155A
,2018-08-03
[3]
光学特性测量装置及光学特性测量方法
[P].
小野修司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小野修司
.
中国专利
:CN105473999B
,2016-04-06
[4]
一种材料光学特性测量装置
[P].
潘建根
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘建根
.
中国专利
:CN105424615A
,2016-03-23
[5]
一种材料光学特性测量装置
[P].
潘建根
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘建根
.
中国专利
:CN205808911U
,2016-12-14
[6]
光学特性测量装置
[P].
大久保和明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
大久保和明
;
白岩久志
论文数:
0
引用数:
0
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0
白岩久志
.
中国专利
:CN103575508A
,2014-02-12
[7]
光学特性测量装置
[P].
安藤利典
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
安藤利典
.
中国专利
:CN102735427A
,2012-10-17
[8]
光学特性测量装置以及光学特性测量方法
[P].
山崎雄介
论文数:
0
引用数:
0
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0
山崎雄介
;
冈本宗大
论文数:
0
引用数:
0
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0
冈本宗大
.
中国专利
:CN102954765B
,2013-03-06
[9]
光学特性测量装置以及光学特性测量方法
[P].
石丸伊知郎
论文数:
0
引用数:
0
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0
石丸伊知郎
.
中国专利
:CN103403528A
,2013-11-20
[10]
用于测量物体的光学特性的设备
[P].
伯恩德特·沃姆
论文数:
0
引用数:
0
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0
伯恩德特·沃姆
;
斯蒂芬·施密特
论文数:
0
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0
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斯蒂芬·施密特
;
克劳迪娅·格舍博特
论文数:
0
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克劳迪娅·格舍博特
;
克里斯托夫·德尼茨基
论文数:
0
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0
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0
克里斯托夫·德尼茨基
.
中国专利
:CN103415243A
,2013-11-27
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