光学镜、X射线荧光分析装置以及X射线荧光分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480011675.4

申请日：

2014-02-27

公开(公告)号：

CN105008905A

公开(公告)日：

2015-10-28

发明(设计)人：

V·勒西格

申请人：

申请人地址：

德国辛德尔芬根

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

G01B1502

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

李隆涛

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-10-28	公开	公开
2020-05-15	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 23/223 申请公布日:20151028
2016-02-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101644510025 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2014800116754 申请日:20140227

共 50 条

[1]

光学镜、X射线荧光分析装置以及X射线荧光分析方法 [P].

V·勒西格 .

中国专利 :CN110702718A ,2020-01-17

[2]

荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法 [P].

斋藤佑多 .

中国专利 :CN112105919A ,2020-12-18

[3]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

高原稔幸 .

中国专利 :CN105628724A ,2016-06-01

[4]

荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法 [P].

深井隆行 ;

的场吉毅 ;

大柿真毅 .

中国专利 :CN109459458A ,2019-03-12

[5]

荧光X射线分析装置 [P].

川上裕幸 .

日本专利 :CN118556183A ,2024-08-27

[6]

全场X射线荧光成像分析或X射线衍射分析装置及方法 [P].

许元军 ;

何泽 ;

王鹏 ;

黄宁 ;

安竹 ;

王跃 ;

陈子晗 .

中国专利 :CN114720496A ,2022-07-08

[7]

荧光X射线分析装置 [P].

多田正市 ;

谷向贤 .

中国专利 :CN103364424A ,2013-10-23

[8]

荧光X射线分析装置 [P].

森久祐司 .

日本专利 :CN119023721A ,2024-11-26

[9]

荧光X射线分析装置 [P].

片冈由行 ;

古泽卫一 ;

河野久征 .

中国专利 :CN1932493A ,2007-03-21

[10]

荧光X射线分析装置 [P].

河野久征 ;

庄司孝 ;

堂井真 .

中国专利 :CN1739023B ,2006-02-22

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