成膜方法和半导体装置的制造方法以及成膜装置

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专利类型
发明
申请号
CN201811579350.2
申请日
2018-12-24
公开(公告)号
CN110029326A
公开(公告)日
2019-07-19
发明(设计)人
永冈达司
申请人
申请人地址
日本爱知县
IPC主分类号
C23C1646
IPC分类号
C23C1602 C23C1652
代理机构
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人
李英
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
成膜方法、成膜装置以及半导体装置的制造方法 [P]. 
小宫隆行 .
中国专利 :CN102453886A ,2012-05-16
[2]
成膜方法、成膜装置以及半导体装置的制造方法 [P]. 
洪锡亨 ;
高桥毅 ;
门田太一 .
中国专利 :CN114929933A ,2022-08-19
[3]
成膜方法、半导体装置的制造方法、半导体装置和成膜装置 [P]. 
石坂忠大 ;
大岛康弘 ;
吉井直树 ;
重冈隆 ;
川村刚平 ;
福田幸夫 ;
小岛康彦 .
中国专利 :CN100405549C ,2005-12-07
[4]
成膜装置、成膜方法和半导体装置 [P]. 
佐藤强 ;
近藤弘康 ;
樱井直明 ;
添田胜之 ;
大城健一 ;
木村修一 .
中国专利 :CN102150234A ,2011-08-10
[5]
成膜装置、成膜方法及半导体装置的制造方法 [P]. 
近藤祐介 ;
山崎壮一 .
中国专利 :CN115110026A ,2022-09-27
[6]
成膜装置、成膜方法及半导体装置的制造方法 [P]. 
近藤祐介 ;
山崎壮一 .
日本专利 :CN115110026B ,2024-09-06
[7]
成膜方法、包含该成膜方法的半导体装置的制造方法、成膜装置及半导体装置 [P]. 
铃木启介 ;
门永健太郎 ;
两角友一朗 .
中国专利 :CN102956447A ,2013-03-06
[8]
半导体装置的制造方法和成膜装置 [P]. 
中岛伸二 ;
锦博彦 ;
见村浩英 ;
齐藤裕一 ;
武田悠二郎 ;
村重正悟 ;
石田和泉 ;
冈部达 .
中国专利 :CN110121765A ,2019-08-13
[9]
成膜方法、成膜装置、存储介质以及半导体装置 [P]. 
堀込正弘 ;
广濑繁和 .
中国专利 :CN101399169B ,2009-04-01
[10]
成膜方法、半导体装置的制造方法、成膜装置及程序 [P]. 
平祐树 ;
门岛胜 .
日本专利 :CN118435331A ,2024-08-02