一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821413437.8
申请日
2018-08-30
公开(公告)号
CN208984546U
公开(公告)日
2019-06-14
发明(设计)人
元浩宇 朱日宏 夏彦文 朱启华 彭志涛 孙志红 郑奎兴 粟敬钦 陈波
申请人
申请人地址
621999 四川省绵阳市919信箱988分箱
IPC主分类号
G01N2195
IPC分类号
代理机构
中国工程物理研究院专利中心 51210
代理人
翟长明;何勇盛
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置 [P]. 
元浩宇 ;
朱日宏 ;
夏彦文 ;
朱启华 ;
彭志涛 ;
孙志红 ;
郑奎兴 ;
粟敬钦 ;
陈波 .
中国专利 :CN109270083A ,2019-01-25
[2]
一种基于偏振成像的光学元件损伤检测装置及方法 [P]. 
赵发财 ;
孙权社 ;
王少水 ;
王国权 ;
郑祥亮 ;
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[3]
一种匀光棒条形光源及基于该光源的光学元件损伤检测装置 [P]. 
路程 ;
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刘炳国 ;
陈凤东 ;
庄志涛 ;
卢丙辉 .
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[4]
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[5]
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[6]
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张鑫 ;
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王德恩 ;
薛峤 ;
卢宗贵 ;
邓学伟 ;
张晓璐 ;
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[7]
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[8]
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庄志涛 ;
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[9]
一种光学元件的检测装置 [P]. 
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[10]
一种光学元件检测装置 [P]. 
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