一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811002285.7
申请日
2018-08-30
公开(公告)号
CN109270083A
公开(公告)日
2019-01-25
发明(设计)人
元浩宇 朱日宏 夏彦文 朱启华 彭志涛 孙志红 郑奎兴 粟敬钦 陈波
申请人
申请人地址
621999 四川省绵阳市919信箱988分箱
IPC主分类号
G01N2195
IPC分类号
代理机构
中国工程物理研究院专利中心 51210
代理人
翟长明;何勇盛
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置 [P]. 
元浩宇 ;
朱日宏 ;
夏彦文 ;
朱启华 ;
彭志涛 ;
孙志红 ;
郑奎兴 ;
粟敬钦 ;
陈波 .
中国专利 :CN208984546U ,2019-06-14
[2]
一种基于偏振成像的光学元件损伤检测装置及方法 [P]. 
赵发财 ;
孙权社 ;
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王国权 ;
郑祥亮 ;
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[3]
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刘国栋 ;
刘炳国 ;
陈凤东 ;
庄志涛 ;
卢丙辉 .
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[4]
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[5]
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[6]
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[7]
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刘炳国 ;
刘国栋 ;
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[8]
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[9]
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刘国栋 ;
冯博 ;
刘炳国 ;
庄志涛 ;
卢丙辉 .
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[10]
一种基于激光辐照预测光学元件损伤演化的方法 [P]. 
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