基于F－P板正弦相位调制的高精度角位移测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN03209960.6

申请日：

2003-08-22

公开(公告)号：

CN2655175Y

公开(公告)日：

2004-11-10

发明(设计)人：

张彩妮王向朝

申请人：

申请人地址：

201800上海市800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01B1126

IPC分类号：

G01B902 H01S500 H01L3300

代理机构：

上海新天专利代理有限公司

代理人：

张泽纯

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2004-11-10	授权	授权
2005-10-05	其他有关事项避免重复授权放弃专利权	其他有关事项避免重复授权放弃专利权放弃生效日:20050914

共 50 条

[1]

高精度单F－P板角位移测量仪 [P].

张彩妮 ;

王向朝 .

中国专利 :CN1515872A ,2004-07-28

[2]

高精度双F－P角位移测量仪 [P].

张彩妮 ;

王向朝 .

中国专利 :CN1170122C ,2003-09-17

[3]

高精度角位移测量装置 [P].

于海 .

中国专利 :CN112484668A ,2021-03-12

[4]

一种新型高精度角位移测量系统 [P].

陈旸 .

中国专利 :CN102243059A ,2011-11-16

[5]

F-P板反馈补偿法角位移测量仪 [P].

张彩妮 ;

张晓鹏 ;

刘承 ;

舒晓武 .

中国专利 :CN101769725A ,2010-07-07

[6]

基于相位调制的高精度时间间隔测量方法 [P].

易春林 ;

周涛 ;

孔德仁 ;

张朗 ;

冯伟 ;

谷鸿平 ;

栗保华 ;

李广嘉 ;

吕永柱 ;

狄长安 .

中国专利 :CN102540865A ,2012-07-04

[7]

差动式正弦相位调制激光干涉纳米位移测量装置及方法 [P].

严利平 ;

陈本永 ;

楼盈天 ;

谢建东 .

中国专利 :CN110411335A ,2019-11-05

[8]

一种基于三F-P标准具的高精度波长测量装置 [P].

李裔 ;

李红梅 ;

卢笔伦 .

中国专利 :CN208780351U ,2019-04-23

[9]

一种基于三F-P标准具的高精度波长测量装置 [P].

李裔 ;

李红梅 ;

卢笔伦 .

中国专利 :CN109084904A ,2018-12-25

[10]

实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉装置 [P].

何国田 ;

王向朝 .

中国专利 :CN201003947Y ,2008-01-09

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