差动式正弦相位调制激光干涉纳米位移测量装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910681897.1
申请日
2019-07-26
公开(公告)号
CN110411335A
公开(公告)日
2019-11-05
发明(设计)人
严利平 陈本永 楼盈天 谢建东
申请人
申请人地址
310018 浙江省杭州市江干经济开发区2号大街928号
IPC主分类号
G01B902
IPC分类号
G01B1102
代理机构
杭州求是专利事务所有限公司 33200
代理人
林超
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
基于相位调制的双激光单频干涉纳米位移测量装置及方法 [P]. 
严利平 ;
陈本永 .
中国专利 :CN106017333B ,2016-10-12
[2]
差动式激光干涉纳米位移测量方法及装置 [P]. 
严利平 ;
陈本永 ;
田秋红 ;
孙政荣 ;
周砚江 .
中国专利 :CN103075969B ,2013-05-01
[3]
非线性误差自补偿的激光干涉纳米位移测量装置及方法 [P]. 
许素安 ;
洪亮 ;
章志勇 ;
曾涛 ;
富雅琼 ;
张宝武 .
中国专利 :CN120252497B ,2025-08-22
[4]
非线性误差自补偿的激光干涉纳米位移测量装置及方法 [P]. 
许素安 ;
洪亮 ;
章志勇 ;
曾涛 ;
富雅琼 ;
张宝武 .
中国专利 :CN120252497A ,2025-07-04
[5]
双光源正弦相位调制位移测量干涉仪 [P]. 
王渤帆 ;
李中梁 ;
王向朝 .
中国专利 :CN101738160A ,2010-06-16
[6]
电光调制激光干涉线位移及角位移测量装置和方法 [P]. 
黄腾超 ;
王先帆 ;
车双良 ;
舒晓武 .
中国专利 :CN112629571B ,2021-04-09
[7]
半导体激光正弦相位调制干涉仪调制深度的测量方法 [P]. 
王渤帆 ;
李中梁 ;
王向朝 .
中国专利 :CN102288387B ,2011-12-21
[8]
双相位测量式激光干涉直线度及位移同时测量装置和方法 [P]. 
陈本永 ;
楼盈天 ;
严利平 .
中国专利 :CN111735391A ,2020-10-02
[9]
正弦相位调制型激光自混合干涉仪及其测量方法 [P]. 
王鸣 ;
夏巍 ;
刘强 ;
李春成 ;
郝辉 ;
郭冬梅 .
中国专利 :CN103528511A ,2014-01-22
[10]
微探头偏振光相位调制的干涉位移测量系统及方法 [P]. 
董祎嗣 ;
张晨 ;
李雯雯 ;
骆文瑞 ;
吴亦凡 ;
胡鹏程 .
中国专利 :CN116878394B ,2024-04-19