基于相位调制的双激光单频干涉纳米位移测量装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610589039.0
申请日
2016-07-22
公开(公告)号
CN106017333B
公开(公告)日
2016-10-12
发明(设计)人
严利平 陈本永
申请人
申请人地址
310018 浙江省杭州市江干经济开发区白杨街道2号大街928号
IPC主分类号
G01B1102
IPC分类号
代理机构
杭州求是专利事务所有限公司 33200
代理人
林超
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
差动式正弦相位调制激光干涉纳米位移测量装置及方法 [P]. 
严利平 ;
陈本永 ;
楼盈天 ;
谢建东 .
中国专利 :CN110411335A ,2019-11-05
[2]
差动式激光干涉纳米位移测量方法及装置 [P]. 
严利平 ;
陈本永 ;
田秋红 ;
孙政荣 ;
周砚江 .
中国专利 :CN103075969B ,2013-05-01
[3]
非线性误差自补偿的激光干涉纳米位移测量装置及方法 [P]. 
许素安 ;
洪亮 ;
章志勇 ;
曾涛 ;
富雅琼 ;
张宝武 .
中国专利 :CN120252497B ,2025-08-22
[4]
非线性误差自补偿的激光干涉纳米位移测量装置及方法 [P]. 
许素安 ;
洪亮 ;
章志勇 ;
曾涛 ;
富雅琼 ;
张宝武 .
中国专利 :CN120252497A ,2025-07-04
[5]
电光调制激光干涉线位移及角位移测量装置和方法 [P]. 
黄腾超 ;
王先帆 ;
车双良 ;
舒晓武 .
中国专利 :CN112629571B ,2021-04-09
[6]
基于不同调制深度的激光相调干涉直线度与位移测量的装置及方法 [P]. 
楼盈天 ;
陈本永 ;
严利平 .
中国专利 :CN118794348A ,2024-10-18
[7]
双光源正弦相位调制位移测量干涉仪 [P]. 
王渤帆 ;
李中梁 ;
王向朝 .
中国专利 :CN101738160A ,2010-06-16
[8]
一种基于ZYNQ的相位调制激光干涉位移测量系统及方法 [P]. 
李理 ;
李昊 ;
王作斌 ;
宋正勋 ;
王璐 ;
于淼 ;
许红梅 .
中国专利 :CN119509342A ,2025-02-25
[9]
基于激光偏振干涉的纳米位移实时测量系统及方法 [P]. 
邱学军 ;
王涵 ;
郭旖 ;
田欣野 ;
曹振洲 .
中国专利 :CN115493503A ,2022-12-20
[10]
基于激光偏振干涉的纳米位移实时测量系统及方法 [P]. 
邱学军 ;
王涵 ;
郭旖 ;
田欣野 ;
曹振洲 .
中国专利 :CN115493503B ,2025-03-04