一种校正杂散射线的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110149758.1

申请日：

2017-08-31

公开(公告)号：

CN112971823A

公开(公告)日：

2021-06-18

发明(设计)人：

季敏

申请人：

申请人地址：

201807 上海市嘉定区城北路2258号

IPC主分类号：

A61B603

IPC分类号：

代理机构：

成都七星天知识产权代理有限公司 51253

代理人：

杨永梅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/03 申请日:20170831
2021-06-18	公开	公开

共 50 条

[1]

一种校正杂散射线的方法 [P].

季敏 .

中国专利 :CN107595314A ,2018-01-19

[2]

一种带散射校正的X射线能谱估计方法 [P].

林桂元 ;

邓世沃 ;

陈爱永 .

中国专利 :CN116609819B ,2025-10-24

[3]

射线检查系统及散射校正方法 [P].

李树伟 ;

张清军 ;

邹湘 ;

朱维彬 ;

赵博震 ;

李祥华 ;

王钧效 .

中国专利 :CN113552640A ,2021-10-26

[4]

X射线成像的散射估计和/或校正 [P].

马特斯·丹尼尔松 ;

大卫·迈克尔·霍夫曼 .

中国专利 :CN109917445A ,2019-06-21

[5]

X射线成像的散射估计和/或校正 [P].

马特斯·丹尼尔松 ;

大卫·迈克尔·霍夫曼 .

中国专利 :CN107710020A ,2018-02-16

[6]

一种X射线设备、应用于X射线设备中的散射校正方法 [P].

杨鹏 .

中国专利 :CN114113173B ,2024-06-18

[7]

一种X射线设备、应用于X射线设备中的散射校正方法 [P].

杨鹏 .

中国专利 :CN114113173A ,2022-03-01

[8]

一种用于静态CT的散射校正方法及散射校正系统 [P].

梁松 ;

陈耕 ;

崔志立 ;

李运祥 ;

齐彦军 .

中国专利 :CN117679056A ,2024-03-12

[9]

用于X射线成像中的散射校正的方法和系统 [P].

吴小页 ;

谢强 ;

P.赛纳思 ;

X.刘 .

中国专利 :CN102846333A ,2013-01-02

[10]

散射线校正机构、方法、装置、系统、设备及介质 [P].

宋艳艳 ;

朱倩 ;

朱建伟 ;

晏海龙 ;

张博 .

中国专利 :CN115112690A ,2022-09-27

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