X射线成像的散射估计和/或校正

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580081248.8

申请日：

2015-10-08

公开(公告)号：

CN107710020A

公开(公告)日：

2018-02-16

发明(设计)人：

马特斯·丹尼尔松大卫·迈克尔·霍夫曼

申请人：

申请人地址：

瑞典斯德哥尔摩

IPC主分类号：

G01T124

IPC分类号：

A61B600 G01T129 G01T136

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

刘宇峰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-27	授权	授权
2018-03-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/24 申请日:20151008
2018-02-16	公开	公开

共 50 条

[1]

X射线成像的散射估计和/或校正 [P].

马特斯·丹尼尔松 ;

大卫·迈克尔·霍夫曼 .

中国专利 :CN109917445A ,2019-06-21

[2]

用于X射线成像的散射校正 [P].

B·门瑟 ;

P·普林森 ;

D·舍费尔 ;

J·维格特 .

:CN112204607B ,2024-04-19

[3]

用于X射线成像的散射校正 [P].

B·门瑟 ;

P·普林森 ;

D·舍费尔 ;

J·维格特 .

中国专利 :CN112204607A ,2021-01-08

[4]

用于X射线成像中的散射校正的方法和系统 [P].

吴小页 ;

谢强 ;

P.赛纳思 ;

X.刘 .

中国专利 :CN102846333A ,2013-01-02

[5]

对相衬X射线成像和/或暗场X射线成像中的X射线入射条纹图样的X射线探测 [P].

R·斯特德曼布克 ;

E·勒斯尔 ;

W·吕腾 .

中国专利 :CN109863424A ,2019-06-07

[6]

用于相位对比和/或暗场成像的X射线探测器 [P].

R·普罗克绍 .

中国专利 :CN107850680A ,2018-03-27

[7]

一种多能谱X射线成像散射估计与校正方法 [P].

周正东 .

中国专利 :CN109540930A ,2019-03-29

[8]

用于X射线成像设施的检查台和X射线成像设施 [P].

贝特霍尔德·鲍曼 ;

安德烈亚斯·布赫脑尔 ;

托马斯·迪普 ;

康斯坦丁·克诺特 ;

沃尔夫冈·诺伊贝尔 .

中国专利 :CN217285823U ,2022-08-26

[9]

X射线探测台和X射线成像设备 [P].

吕永 ;

于爱民 .

中国专利 :CN101491444B ,2009-07-29

[10]

X射线成像设备和方法 [P].

弗雷德里克·约翰内斯·贝克曼 .

中国专利 :CN114302678A ,2022-04-08

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