基于CLEAN算法的电离层电子密度反演方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010430957.5

申请日：

2020-05-20

公开(公告)号：

CN111580061B

公开(公告)日：

2020-08-25

发明(设计)人：

郝红连赵必强乐新安丁锋曾令旗

申请人：

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路19号

IPC主分类号：

G01S741

IPC分类号：

代理机构：

北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576

代理人：

郭文浩;尹文会

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-25	公开	公开
2020-09-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/41 申请日:20200520
2020-10-27	授权	授权

共 50 条

[1]

基于RTG的电离层电子密度反演方法及系统 [P].

李庆丰 ;

李泽运 ;

方涵先 ;

汪四成 ;

龚红卫 .

中国专利 :CN113687149A ,2021-11-23

[2]

基于RTG的电离层电子密度反演方法及系统 [P].

李庆丰 ;

李泽运 ;

方涵先 ;

汪四成 ;

龚红卫 .

中国专利 :CN113687149B ,2024-04-05

[3]

基于掩星数据的低电离层电子密度反演方法 [P].

牛俊 ;

李绍文 ;

翁利斌 ;

孟兴 ;

汪四成 ;

盛峥 ;

梅冰 .

中国专利 :CN120316384B ,2025-09-02

[4]

基于掩星数据的低电离层电子密度反演方法 [P].

牛俊 ;

李绍文 ;

翁利斌 ;

孟兴 ;

汪四成 ;

盛峥 ;

梅冰 .

中国专利 :CN120316384A ,2025-07-15

[5]

电离层电子密度的反演方法、装置、系统、设备和介质 [P].

胡鹏 ;

白伟华 ;

孟祥广 ;

谭广远 ;

孙越强 ;

杜起飞 ;

蔡跃荣 ;

王先毅 ;

夏俊明 ;

李伟 ;

曹光伟 ;

柳聪亮 ;

尹聪 ;

黄飞雄 ;

吴汝晗 ;

王冬伟 ;

刘成 ;

乔颢 ;

李福 ;

仇通胜 ;

田羽森 ;

张浩 ;

王卓炎 ;

张鹏举 .

中国专利 :CN119556316A ,2025-03-04

[6]

一种基于雷达回波的电离层电子密度探测方法 [P].

丁宗华 ;

代连东 ;

吴健 ;

许正文 ;

王宁 ;

唐志美 .

中国专利 :CN106371084A ,2017-02-01

[7]

基于电离层电子密度的GNSS掩星电离层残差修正方法及系统 [P].

柳聪亮 ;

孙越强 ;

杜起飞 ;

白伟华 ;

王先毅 ;

蔡跃荣 ;

孟祥广 ;

夏俊明 ;

王冬伟 ;

李伟 ;

吴春俊 ;

刘成 ;

赵丹阳 .

中国专利 :CN110275183B ,2019-09-24

[8]

一种电离层层析反演电子密度方法及相关设备 [P].

王一帆 ;

王国芳 ;

彭晶 ;

马御棠 ;

马仪 ;

周仿荣 ;

耿浩 ;

曹俊 ;

尹春林 ;

代泽林 ;

朱龙昌 ;

杜肖 ;

饶桐 ;

毕云川 ;

文刚 ;

李彦锋 .

中国专利 :CN118837909A ,2024-10-25

[9]

基于电子密度的三维热层和电离层参数反演方法及系统 [P].

陈洲 ;

郭燕 ;

范存群 ;

王劲松 ;

毛冬艳 ;

古新语 ;

谢廷锋 ;

张佳梁 ;

张可宁 ;

曾嘉豪 ;

张健翔 ;

宋健 ;

王云冈 ;

宗位国 ;

毛田 .

中国专利 :CN119380868A ,2025-01-28

[10]

电子密度剖面和电离层参数的获取方法及装置 [P].

祝凌云 ;

赵子祎 ;

姜春华 ;

刘桐辛 ;

杨国斌 ;

刘旭晖 .

中国专利 :CN120337594B ,2025-10-10

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