基于掩星数据的低电离层电子密度反演方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510788999.9

申请日：

2025-06-13

公开(公告)号：

CN120316384A

公开(公告)日：

2025-07-15

发明(设计)人：

牛俊李绍文翁利斌孟兴汪四成盛峥梅冰

申请人：

中国人民解放军国防科技大学

申请人地址：

410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

IPC主分类号：

G06F17/10

IPC分类号：

G06F17/12 G06F17/17 G06F18/10 G06F17/18 G06F17/16 G01S19/37

代理机构：

长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225

代理人：

朱旭琴

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 17/10申请日:20250613
2025-09-02	授权	授权
2025-07-15	公开	公开

共 50 条

[1]

基于掩星数据的低电离层电子密度反演方法 [P].

牛俊 ;

李绍文 ;

翁利斌 ;

孟兴 ;

汪四成 ;

盛峥 ;

梅冰 .

中国专利 :CN120316384B ,2025-09-02

[2]

基于电离层电子密度的GNSS掩星电离层残差修正方法及系统 [P].

柳聪亮 ;

孙越强 ;

杜起飞 ;

白伟华 ;

王先毅 ;

蔡跃荣 ;

孟祥广 ;

夏俊明 ;

王冬伟 ;

李伟 ;

吴春俊 ;

刘成 ;

赵丹阳 .

中国专利 :CN110275183B ,2019-09-24

[3]

基于CLEAN算法的电离层电子密度反演方法 [P].

郝红连 ;

赵必强 ;

乐新安 ;

丁锋 ;

曾令旗 .

中国专利 :CN111580061B ,2020-08-25

[4]

基于RTG的电离层电子密度反演方法及系统 [P].

李庆丰 ;

李泽运 ;

方涵先 ;

汪四成 ;

龚红卫 .

中国专利 :CN113687149A ,2021-11-23

[5]

基于RTG的电离层电子密度反演方法及系统 [P].

李庆丰 ;

李泽运 ;

方涵先 ;

汪四成 ;

龚红卫 .

中国专利 :CN113687149B ,2024-04-05

[6]

电离层电子密度的反演方法、装置、系统、设备和介质 [P].

胡鹏 ;

白伟华 ;

孟祥广 ;

谭广远 ;

孙越强 ;

杜起飞 ;

蔡跃荣 ;

王先毅 ;

夏俊明 ;

李伟 ;

曹光伟 ;

柳聪亮 ;

尹聪 ;

黄飞雄 ;

吴汝晗 ;

王冬伟 ;

刘成 ;

乔颢 ;

李福 ;

仇通胜 ;

田羽森 ;

张浩 ;

王卓炎 ;

张鹏举 .

中国专利 :CN119556316A ,2025-03-04

[7]

基于掩星STEC数据的电离层TEC地图反演方法及系统 [P].

张良 ;

王伟棠 ;

姚宜斌 ;

汤俊 .

中国专利 :CN121028125A ,2025-11-28

[8]

一种电离层层析反演电子密度方法及相关设备 [P].

王一帆 ;

王国芳 ;

彭晶 ;

马御棠 ;

马仪 ;

周仿荣 ;

耿浩 ;

曹俊 ;

尹春林 ;

代泽林 ;

朱龙昌 ;

杜肖 ;

饶桐 ;

毕云川 ;

文刚 ;

李彦锋 .

中国专利 :CN118837909A ,2024-10-25

[9]

基于电离层观测数据的GNSS掩星电离层误差修正方法及系统 [P].

柳聪亮 ;

孙越强 ;

杜起飞 ;

白伟华 ;

王先毅 ;

蔡跃荣 ;

孟祥广 ;

夏俊明 ;

王冬伟 ;

李伟 ;

吴春俊 ;

刘成 ;

赵丹阳 .

中国专利 :CN111323798A ,2020-06-23

[10]

一种基于雷达回波的电离层电子密度探测方法 [P].

丁宗华 ;

代连东 ;

吴健 ;

许正文 ;

王宁 ;

唐志美 .

中国专利 :CN106371084A ,2017-02-01

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