测量方法、测量装置和测量程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201380011853.9

申请日：

2013-02-22

公开(公告)号：

CN104160287A

公开(公告)日：

2014-11-19

发明(设计)人：

志村重辅诸冈正浩

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

H02S5010 H01L3104 H01M1048 H01M1400

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

陈桂香;曹正建

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-11-19	公开	公开
2015-10-28	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101722802819 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2013800118539 申请公布日:20141119

共 50 条

[1]

测量装置、测量方法、以及测量程序 [P].

野口真伍 ;

木代雅巳 .

中国专利 :CN107278265A ,2017-10-20

[2]

测量装置、测量程序及测量方法 [P].

笠健太郎 .

中国专利 :CN115493498A ,2022-12-20

[3]

测量装置、测量程序及测量方法 [P].

笠健太郎 .

日本专利 :CN115493498B ,2025-09-30

[4]

测量方法和测量程序 [P].

酒井裕志 ;

后藤智德 .

中国专利 :CN107121084A ,2017-09-01

[5]

测量方法和测量程序 [P].

酒井裕志 ;

渡边裕 ;

高滨康弘 ;

伊藤明正 ;

工藤雄治 .

中国专利 :CN107121058A ,2017-09-01

[6]

测量装置、测量系统、测量程序以及测量方法 [P].

渡边义浩 ;

石川正俊 ;

加地宏乃介 .

中国专利 :CN112771367A ,2021-05-07

[7]

测量方法、测量装置、测量系统以及测量程序 [P].

小林祥宏 .

中国专利 :CN115541151A ,2022-12-30

[8]

温度测量装置、温度测量方法和温度测量程序 [P].

宇野和史 ;

笠岛丈夫 ;

有冈孝祐 ;

福田裕幸 .

中国专利 :CN107615028A ,2018-01-19

[9]

位置测量装置、位置测量方法和位置测量程序 [P].

大谷仁志 ;

伊藤忠之 .

中国专利 :CN101149252B ,2008-03-26

[10]

形状测量装置、形状测量方法、和形状测量程序 [P].

中务贵司 .

中国专利 :CN103673924A ,2014-03-26

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