一种测试方法、测试装置、终端设备及可读存储介质

被引：0

申请号：

CN202110154615.X

申请日：

2021-02-04

公开(公告)号：

CN114866940A

公开(公告)日：

2022-08-05

发明(设计)人：

黄健彭远

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区留仙大道3333号塘朗城A座35楼

IPC主分类号：

H04R2900

IPC分类号：

H04R110

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

冷仔

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04R 29/00 申请日:20210204
2022-08-05	公开	公开

共 50 条

[1]

一种测试方法、测试装置、终端设备及可读存储介质 [P].

黄健 ;

彭远 .

中国专利 :CN114866940B ,2025-07-01

[2]

一种测试方法、测试装置、终端设备及存储介质 [P].

唐勇 .

中国专利 :CN114328162A ,2022-04-12

[3]

功耗测试方法、测试装置、终端设备及存储介质 [P].

叶阳 ;

陈茜 .

中国专利 :CN112533240A ,2021-03-19

[4]

测试方法、测试装置、终端设备及计算机可读存储介质 [P].

姚坤 .

中国专利 :CN110633192A ,2019-12-31

[5]

测试方法、测试装置、测试终端设备和存储介质 [P].

王晟皓 ;

顾春阳 ;

张晓晨 ;

张何 .

中国专利 :CN117590135A ,2024-02-23

[6]

终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111601331A ,2020-08-28

[7]

终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111586732A ,2020-08-25

[8]

测试方法、装置、终端设备及可读存储介质 [P].

殷坤 .

中国专利 :CN109857632B ,2019-06-07

[9]

机内测试方法、测试装置、及终端设备和存储介质 [P].

王鹤淇 ;

薛乐堂 ;

王伟国 ;

姜润强 ;

刘阳 ;

刘廷霞 ;

杜璧秀 .

中国专利 :CN109783286A ,2019-05-21

[10]

软件测试方法、终端设备及可读存储介质 [P].

刘同亮 ;

陈晓锋 ;

方朋朋 .

中国专利 :CN118642971A ,2024-09-13

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