功耗测试方法、测试装置、终端设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011371974.2

申请日：

2020-11-30

公开(公告)号：

CN112533240A

公开(公告)日：

2021-03-19

发明(设计)人：

叶阳陈茜

申请人：

申请人地址：

100033 北京市西城区金融大街21号

IPC主分类号：

H04W2402

IPC分类号：

H04W7628

代理机构：

北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112

代理人：

罗建民;杜丹丹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04W 24/02 申请日:20201130
2021-03-19	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、测试装置、测试终端设备和存储介质 [P].

王晟皓 ;

顾春阳 ;

张晓晨 ;

张何 .

中国专利 :CN117590135A ,2024-02-23

[2]

终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111601331A ,2020-08-28

[3]

终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P].

刘君 .

中国专利 :CN111586732A ,2020-08-25

[4]

CPU功耗的测试方法、测试装置、测试设备及存储介质 [P].

赵凡 ;

张猛 .

中国专利 :CN111813632A ,2020-10-23

[5]

机内测试方法、测试装置、及终端设备和存储介质 [P].

王鹤淇 ;

薛乐堂 ;

王伟国 ;

姜润强 ;

刘阳 ;

刘廷霞 ;

杜璧秀 .

中国专利 :CN109783286A ,2019-05-21

[6]

一种测试方法、测试装置、终端设备及存储介质 [P].

唐勇 .

中国专利 :CN114328162A ,2022-04-12

[7]

一种测试方法、测试装置、终端设备及可读存储介质 [P].

黄健 ;

彭远 .

中国专利 :CN114866940A ,2022-08-05

[8]

测试方法、测试装置、终端设备及计算机可读存储介质 [P].

姚坤 .

中国专利 :CN110633192A ,2019-12-31

[9]

一种测试方法、测试装置、终端设备及可读存储介质 [P].

黄健 ;

彭远 .

中国专利 :CN114866940B ,2025-07-01

[10]

测试方法、测试装置及终端设备 [P].

邓华波 .

中国专利 :CN112889035B ,2024-07-19

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