机内测试方法、测试装置、及终端设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811619477.2
申请日
2018-12-28
公开(公告)号
CN109783286A
公开(公告)日
2019-05-21
发明(设计)人
王鹤淇 薛乐堂 王伟国 姜润强 刘阳 刘廷霞 杜璧秀
申请人
申请人地址
130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
代理机构
深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316
代理人
吴乃壮
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、测试装置、测试终端设备和存储介质 [P]. 
王晟皓 ;
顾春阳 ;
张晓晨 ;
张何 .
中国专利 :CN117590135A ,2024-02-23
[2]
功耗测试方法、测试装置、终端设备及存储介质 [P]. 
叶阳 ;
陈茜 .
中国专利 :CN112533240A ,2021-03-19
[3]
终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN111601331A ,2020-08-28
[4]
终端测试方法、终端测试装置、测试设备及存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN111586732A ,2020-08-25
[5]
测试方法、测试装置、终端设备及计算机可读存储介质 [P]. 
姚坤 .
中国专利 :CN110633192A ,2019-12-31
[6]
自动化测试方法、测试装置、终端设备和存储介质 [P]. 
陈安宝 ;
周小欢 .
中国专利 :CN119071477A ,2024-12-03
[7]
一种测试方法、测试装置、终端设备及存储介质 [P]. 
唐勇 .
中国专利 :CN114328162A ,2022-04-12
[8]
测试方法、系统、终端设备及存储介质 [P]. 
肖鸿鑫 ;
陈杰夫 ;
杨泽坤 ;
李安平 .
中国专利 :CN121027791A ,2025-11-28
[9]
测试方法、装置、终端设备及存储介质 [P]. 
王倩文 .
中国专利 :CN117560309A ,2024-02-13
[10]
一种测试方法、测试装置、终端设备及可读存储介质 [P]. 
黄健 ;
彭远 .
中国专利 :CN114866940A ,2022-08-05