一种晶片检测装置、晶片传输系统及晶片检测方法

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专利类型
发明
申请号
CN201910906361.5
申请日
2019-09-24
公开(公告)号
CN110752168B
公开(公告)日
2020-02-04
发明(设计)人
商家强
申请人
申请人地址
100176 北京市大兴区经济技术开发区文昌大道8号
IPC主分类号
H01L2167
IPC分类号
H01L2166
代理机构
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人
莎日娜
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
晶片检测系统和晶片检测方法 [P]. 
徐义 .
中国专利 :CN108878307B ,2018-11-23
[2]
一种晶片检测装置和晶片检测方法 [P]. 
左仲 ;
王明珠 ;
许俊 ;
赵庆国 .
中国专利 :CN101026116A ,2007-08-29
[3]
晶片传输系统及晶片传输方法 [P]. 
张鹏 .
中国专利 :CN106558520A ,2017-04-05
[4]
晶片传输系统及晶片传输方法 [P]. 
张鹏 .
中国专利 :CN106558520B ,2025-11-11
[5]
晶片分片装置及晶片检测方法 [P]. 
石刚 ;
胡飞 ;
张军 ;
姜超 ;
陈国炜 .
中国专利 :CN117038548B ,2024-02-13
[6]
晶片检测系统、反应腔室及晶片检测方法 [P]. 
何丽 ;
吴军 .
中国专利 :CN104916560B ,2015-09-16
[7]
一种晶片分片装置及晶片检测方法 [P]. 
孟凡华 ;
张秀明 ;
程海霞 ;
马艳丽 ;
黄丹丹 ;
史月莹 ;
郭艳杰 .
中国专利 :CN118866801A ,2024-10-29
[8]
晶片检测设备和晶片检测方法 [P]. 
周崇斌 .
中国专利 :CN112309881A ,2021-02-02
[9]
晶片检测设备和晶片检测方法 [P]. 
周崇斌 .
中国专利 :CN112309881B ,2024-09-03
[10]
一种晶片检测装置及检测方法 [P]. 
楚磊 ;
周友琴 ;
王明鑫 .
中国专利 :CN117589682A ,2024-02-23