碳化硅半导体晶片、碳化硅半导体芯片及碳化硅半导体装置的制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201680091075.2
申请日
2016-11-28
公开(公告)号
CN109996908B
公开(公告)日
2019-07-09
发明(设计)人
滨野健一 大野彰仁 沟部卓真 酒井雅 木村泰广 三谷阳一郎 金泽孝
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
C30B2936
IPC分类号
H01L2120 H01L21205 H01L21336 H01L2912 H01L29739 H01L2978 H01L29861 H01L29868 H01L29872
代理机构
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
何立波;张天舒
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
碳化硅半导体晶片及其制造方法、碳化硅半导体装置 [P]. 
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碳化硅衬底、碳化硅晶片、碳化硅半导体装置 [P]. 
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[3]
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[4]
碳化硅半导体基底和碳化硅半导体装置 [P]. 
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[5]
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
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[10]
碳化硅半导体装置及碳化硅半导体装置的制造方法 [P]. 
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