一种集成电路测试多工位定位装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201820559869.3
申请日
2018-04-18
公开(公告)号
CN208334563U
公开(公告)日
2019-01-04
发明(设计)人
洪碧凤
申请人
申请人地址
362300 福建省泉州市南安市梅山镇梅峰村三落30号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
代理人
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
叶键波 ;
韩笑 ;
王维 .
中国专利 :CN202563062U ,2012-11-28
[2]
一种集成电路测试用多工位定位装置 [P]. 
陈益群 ;
王泽山 ;
季伟 .
中国专利 :CN216117911U ,2022-03-22
[3]
一种集成电路测试用多工位定位装置 [P]. 
孟晓南 .
中国专利 :CN218445824U ,2023-02-03
[4]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
彭佳颖 .
中国专利 :CN218427826U ,2023-02-03
[5]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
陈少宽 ;
曾建阳 ;
曾振崇 .
中国专利 :CN208109885U ,2018-11-16
[6]
集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
叶键波 ;
韩笑 ;
王维 .
中国专利 :CN102636739A ,2012-08-15
[7]
一种集成电路测试多工位定位设备 [P]. 
朱燕华 .
中国专利 :CN113848448A ,2021-12-28
[8]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
刘芳婷 .
中国专利 :CN207861418U ,2018-09-14
[9]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
胡志东 .
中国专利 :CN214953947U ,2021-11-30
[10]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
厉纪成 .
中国专利 :CN112485479A ,2021-03-12