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一种集成电路测试多工位定位装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820559869.3
申请日
:
2018-04-18
公开(公告)号
:
CN208334563U
公开(公告)日
:
2019-01-04
发明(设计)人
:
洪碧凤
申请人
:
申请人地址
:
362300 福建省泉州市南安市梅山镇梅峰村三落30号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-04-03
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180418 授权公告日:20190104 终止日期:20190418
2019-01-04
授权
授权
共 50 条
[1]
集成电路测试多工位定位装置
[P].
叶键波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶键波
;
韩笑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩笑
;
王维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王维
.
中国专利
:CN202563062U
,2012-11-28
[2]
一种集成电路测试用多工位定位装置
[P].
陈益群
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈益群
;
王泽山
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王泽山
;
季伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
季伟
.
中国专利
:CN216117911U
,2022-03-22
[3]
一种集成电路测试用多工位定位装置
[P].
孟晓南
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孟晓南
.
中国专利
:CN218445824U
,2023-02-03
[4]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
彭佳颖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭佳颖
.
中国专利
:CN218427826U
,2023-02-03
[5]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
陈少宽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈少宽
;
曾建阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾建阳
;
曾振崇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾振崇
.
中国专利
:CN208109885U
,2018-11-16
[6]
集成电路测试多工位定位装置
[P].
叶键波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶键波
;
韩笑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩笑
;
王维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王维
.
中国专利
:CN102636739A
,2012-08-15
[7]
一种集成电路测试多工位定位设备
[P].
朱燕华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱燕华
.
中国专利
:CN113848448A
,2021-12-28
[8]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
刘芳婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘芳婷
.
中国专利
:CN207861418U
,2018-09-14
[9]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
胡志东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡志东
.
中国专利
:CN214953947U
,2021-11-30
[10]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
厉纪成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
厉纪成
.
中国专利
:CN112485479A
,2021-03-12
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