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一种集成电路测试多工位定位装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820079803.4
申请日
:
2018-01-17
公开(公告)号
:
CN207861418U
公开(公告)日
:
2018-09-14
发明(设计)人
:
刘芳婷
申请人
:
申请人地址
:
315400 浙江省宁波市余姚市中意宁波生态园兴舜路22号
IPC主分类号
:
B65G4905
IPC分类号
:
G01R3128
G01R102
代理机构
:
北京华识知识产权代理有限公司 11530
代理人
:
乔浩刚
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-09-14
授权
授权
共 50 条
[1]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
陈少宽
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陈少宽
;
曾建阳
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曾建阳
;
曾振崇
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曾振崇
.
中国专利
:CN208109885U
,2018-11-16
[2]
集成电路测试多工位定位装置
[P].
叶键波
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叶键波
;
韩笑
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韩笑
;
王维
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王维
.
中国专利
:CN102636739A
,2012-08-15
[3]
集成电路测试多工位定位装置
[P].
叶键波
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叶键波
;
韩笑
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韩笑
;
王维
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王维
.
中国专利
:CN202563062U
,2012-11-28
[4]
一种集成电路测试用多工位定位装置
[P].
陈益群
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陈益群
;
王泽山
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王泽山
;
季伟
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季伟
.
中国专利
:CN216117911U
,2022-03-22
[5]
一种集成电路测试用多工位定位装置
[P].
孟晓南
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孟晓南
.
中国专利
:CN218445824U
,2023-02-03
[6]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
胡志东
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胡志东
.
中国专利
:CN214953947U
,2021-11-30
[7]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
彭佳颖
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彭佳颖
.
中国专利
:CN218427826U
,2023-02-03
[8]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
厉纪成
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厉纪成
.
中国专利
:CN112485479A
,2021-03-12
[9]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
洪碧凤
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洪碧凤
.
中国专利
:CN208334563U
,2019-01-04
[10]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
谢银泉
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谢银泉
.
中国专利
:CN110095705A
,2019-08-06
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