一种集成电路测试多工位定位装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201820079803.4
申请日
2018-01-17
公开(公告)号
CN207861418U
公开(公告)日
2018-09-14
发明(设计)人
刘芳婷
申请人
申请人地址
315400 浙江省宁波市余姚市中意宁波生态园兴舜路22号
IPC主分类号
B65G4905
IPC分类号
G01R3128 G01R102
代理机构
北京华识知识产权代理有限公司 11530
代理人
乔浩刚
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
陈少宽 ;
曾建阳 ;
曾振崇 .
中国专利 :CN208109885U ,2018-11-16
[2]
集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
叶键波 ;
韩笑 ;
王维 .
中国专利 :CN102636739A ,2012-08-15
[3]
集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
叶键波 ;
韩笑 ;
王维 .
中国专利 :CN202563062U ,2012-11-28
[4]
一种集成电路测试用多工位定位装置 [P]. 
陈益群 ;
王泽山 ;
季伟 .
中国专利 :CN216117911U ,2022-03-22
[5]
一种集成电路测试用多工位定位装置 [P]. 
孟晓南 .
中国专利 :CN218445824U ,2023-02-03
[6]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
胡志东 .
中国专利 :CN214953947U ,2021-11-30
[7]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
彭佳颖 .
中国专利 :CN218427826U ,2023-02-03
[8]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
厉纪成 .
中国专利 :CN112485479A ,2021-03-12
[9]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
洪碧凤 .
中国专利 :CN208334563U ,2019-01-04
[10]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
谢银泉 .
中国专利 :CN110095705A ,2019-08-06