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一种集成电路测试用多工位定位装置
被引:0
申请号
:
CN202222300659.1
申请日
:
2022-08-31
公开(公告)号
:
CN218445824U
公开(公告)日
:
2023-02-03
发明(设计)人
:
孟晓南
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区67区留芳路2号凌云研发楼8层
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
深圳市江凌专利代理事务所(普通合伙) 44814
代理人
:
王峰
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-02-03
授权
授权
共 50 条
[1]
一种集成电路测试用多工位定位装置
[P].
陈益群
论文数:
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0
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陈益群
;
王泽山
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王泽山
;
季伟
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季伟
.
中国专利
:CN216117911U
,2022-03-22
[2]
一种集成电路测试用的多工位定位装置
[P].
吴斌
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0
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0
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0
吴斌
.
中国专利
:CN216870734U
,2022-07-01
[3]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
洪碧凤
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0
洪碧凤
.
中国专利
:CN208334563U
,2019-01-04
[4]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
陈少宽
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陈少宽
;
曾建阳
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曾建阳
;
曾振崇
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曾振崇
.
中国专利
:CN208109885U
,2018-11-16
[5]
集成电路测试多工位定位装置
[P].
叶键波
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叶键波
;
韩笑
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韩笑
;
王维
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王维
.
中国专利
:CN202563062U
,2012-11-28
[6]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
刘芳婷
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刘芳婷
.
中国专利
:CN207861418U
,2018-09-14
[7]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
彭佳颖
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彭佳颖
.
中国专利
:CN218427826U
,2023-02-03
[8]
集成电路测试多工位定位装置
[P].
叶键波
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叶键波
;
韩笑
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韩笑
;
王维
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王维
.
中国专利
:CN102636739A
,2012-08-15
[9]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
胡志东
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胡志东
.
中国专利
:CN214953947U
,2021-11-30
[10]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
厉纪成
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厉纪成
.
中国专利
:CN112485479A
,2021-03-12
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