一种集成电路测试用多工位定位装置

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申请号
CN202222300659.1
申请日
2022-08-31
公开(公告)号
CN218445824U
公开(公告)日
2023-02-03
发明(设计)人
孟晓南
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区67区留芳路2号凌云研发楼8层
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
深圳市江凌专利代理事务所(普通合伙) 44814
代理人
王峰
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种集成电路测试用多工位定位装置 [P]. 
陈益群 ;
王泽山 ;
季伟 .
中国专利 :CN216117911U ,2022-03-22
[2]
一种集成电路测试用的多工位定位装置 [P]. 
吴斌 .
中国专利 :CN216870734U ,2022-07-01
[3]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
洪碧凤 .
中国专利 :CN208334563U ,2019-01-04
[4]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
陈少宽 ;
曾建阳 ;
曾振崇 .
中国专利 :CN208109885U ,2018-11-16
[5]
集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
叶键波 ;
韩笑 ;
王维 .
中国专利 :CN202563062U ,2012-11-28
[6]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
刘芳婷 .
中国专利 :CN207861418U ,2018-09-14
[7]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
彭佳颖 .
中国专利 :CN218427826U ,2023-02-03
[8]
集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
叶键波 ;
韩笑 ;
王维 .
中国专利 :CN102636739A ,2012-08-15
[9]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
胡志东 .
中国专利 :CN214953947U ,2021-11-30
[10]
一种集成电路测试多工位定位装置 [P]. 
厉纪成 .
中国专利 :CN112485479A ,2021-03-12