一种缺陷检测装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201611237170.7
申请日
2016-12-28
公开(公告)号
CN108254379A
公开(公告)日
2018-07-06
发明(设计)人
周钰颖
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张东路1525号
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
屈蘅;李时云
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
杨朝兴 .
中国专利 :CN117288757B ,2024-08-13
[2]
一种缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P]. 
赵伟 ;
苏启雄 ;
林映庭 ;
杨小冬 .
中国专利 :CN112577959A ,2021-03-30
[3]
一种缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
伊凯 .
中国专利 :CN111610197A ,2020-09-01
[4]
一种缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
杨晓青 ;
申永强 ;
韩雪山 ;
王帆 .
中国专利 :CN110658196B ,2020-01-07
[5]
一种缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
张鹏黎 .
中国专利 :CN113533353A ,2021-10-22
[6]
一种缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
赵赫 .
中国专利 :CN111551556A ,2020-08-18
[7]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
久利龙平 .
中国专利 :CN111323423A ,2020-06-23
[8]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
山崎隆一 .
中国专利 :CN101600957A ,2009-12-09
[9]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
久利龙平 .
日本专利 :CN111323423B ,2024-01-30
[10]
缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P]. 
杨学红 .
中国专利 :CN109726131B ,2019-05-07