学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种电学性能测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820031459.1
申请日
:
2018-01-09
公开(公告)号
:
CN207742290U
公开(公告)日
:
2018-08-17
发明(设计)人
:
彭兆阜
申请人
:
申请人地址
:
528400 广东省中山市横栏镇新丰村富逸骏园后面第一幢厂房第4-5层
IPC主分类号
:
G01R3112
IPC分类号
:
G01R2726
G01R2702
代理机构
:
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350
代理人
:
汤东凤
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-08-17
授权
授权
2019-12-27
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/12 申请日:20180109 授权公告日:20180817 终止日期:20190109
共 50 条
[1]
一种电学性能测试设备
[P].
滕俊杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
滕俊杰
;
李素敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李素敏
.
中国专利
:CN209311529U
,2019-08-27
[2]
电学性能测试方法及其测试设备
[P].
叶明修
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶明修
;
方家彦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
方家彦
;
刘致宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘致宏
;
云正隆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
云正隆
;
柯昆龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
柯昆龙
.
中国专利
:CN101813745A
,2010-08-25
[3]
一种新型电学性能测试装置
[P].
王修才
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王修才
;
陈建文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈建文
;
于盺梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于盺梅
;
蒋业文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋业文
;
朱珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱珍
;
杨发权
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨发权
;
樊耘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
樊耘
;
牛菓
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
牛菓
;
段志奎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
段志奎
.
中国专利
:CN207908543U
,2018-09-25
[4]
一种汽车HUD主板电学性能测试设备
[P].
曹利锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹利锋
;
刘志发
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘志发
;
梁富辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁富辉
;
符彪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
符彪
;
张得中
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张得中
;
毛红文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
毛红文
.
中国专利
:CN217879306U
,2022-11-22
[5]
一种新LED电学性能测试工装
[P].
尹荔松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尹荔松
;
涂驰周
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
涂驰周
;
马思琪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马思琪
;
蓝键
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蓝键
.
中国专利
:CN209446637U
,2019-09-27
[6]
一种锂电池的电学性能测试器
[P].
邓石添
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳诚测检测技术有限公司
深圳诚测检测技术有限公司
邓石添
;
杨柳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳诚测检测技术有限公司
深圳诚测检测技术有限公司
杨柳
.
中国专利
:CN221261199U
,2024-07-02
[7]
一种测试电学性能的检测插件
[P].
孙志坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙志坤
;
刘军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘军
.
中国专利
:CN210376549U
,2020-04-21
[8]
一种电学材料性能测试装置
[P].
王北一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王北一
.
中国专利
:CN211347718U
,2020-08-25
[9]
一种样品电学性能测试用夹具
[P].
孟庆法
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孟庆法
;
汤杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汤杰
;
刘毅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘毅
;
卢佳妍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢佳妍
;
黄艳萍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄艳萍
.
中国专利
:CN208140832U
,2018-11-23
[10]
一种半导体电学性能测试装置
[P].
朱明兰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱明兰
;
左万胜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
左万胜
;
胡新星
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡新星
;
仇成功
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
仇成功
;
赵海明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵海明
;
钮应喜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
钮应喜
;
袁松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
袁松
;
王丽多
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王丽多
.
中国专利
:CN215728597U
,2022-02-01
←
1
2
3
4
5
→