电学性能测试方法及其测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910118025.0

申请日：

2009-02-20

公开(公告)号：

CN101813745A

公开(公告)日：

2010-08-25

发明(设计)人：

叶明修方家彦刘致宏云正隆柯昆龙

申请人：

申请人地址：

中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218

代理人：

翟羽

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-08-25	公开	公开
2010-10-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101007481987 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2009101180250 申请日:20090220
2012-12-26	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101490775280 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2009101180250 申请公布日:20100825

共 50 条

[1]

电学性能测试方法及装置 [P].

刘光锟 .

中国专利 :CN108254673A ,2018-07-06

[2]

一种电学性能测试设备 [P].

滕俊杰 ;

李素敏 .

中国专利 :CN209311529U ,2019-08-27

[3]

一种电学性能测试设备 [P].

彭兆阜 .

中国专利 :CN207742290U ,2018-08-17

[4]

栅介质的电学性能的测试方法 [P].

魏星 ;

曹铎 ;

狄增峰 ;

方子韦 .

中国专利 :CN103745941B ,2014-04-23

[5]

定位设备的性能测试设备、测试方法及其装置 [P].

王卓念 ;

李文兴 ;

张国茂 ;

李建征 ;

龙阳 .

中国专利 :CN109343089B ,2019-02-15

[6]

电容、性能测试设备及性能测试方法 [P].

林昆鹏 .

中国专利 :CN119044706A ,2024-11-29

[7]

测试元件组、电学性能测试方法、阵列基板、显示装置 [P].

廖中伟 ;

樊超 ;

赵永强 ;

蒋冬舜 ;

陈胡建 .

中国专利 :CN109166507A ,2019-01-08

[8]

封装芯片电学性能的测试方法 [P].

梅萌 ;

史刚 ;

王培春 ;

李广峰 .

中国专利 :CN113539868A ,2021-10-22

[9]

一种汽车HUD主板电学性能测试设备 [P].

曹利锋 ;

刘志发 ;

梁富辉 ;

符彪 ;

张得中 ;

毛红文 .

中国专利 :CN217879306U ,2022-11-22

[10]

电机性能测试设备及测试方法 [P].

许小艺 .

中国专利 :CN109541460A ,2019-03-29

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