电学性能测试方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810072455.2

申请日：

2018-01-25

公开(公告)号：

CN108254673A

公开(公告)日：

2018-07-06

发明(设计)人：

刘光锟

申请人：

申请人地址：

350000 福建省福州市仓山区盖山投资区内（高旺村11号）

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

汤东凤

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-06	公开	公开
2018-07-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180125
2020-12-04	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L 21/66 申请公布日:20180706

共 50 条

[1]

电学性能测试方法及其测试设备 [P].

叶明修 ;

方家彦 ;

刘致宏 ;

云正隆 ;

柯昆龙 .

中国专利 :CN101813745A ,2010-08-25

[2]

测试元件组、电学性能测试方法、阵列基板、显示装置 [P].

廖中伟 ;

樊超 ;

赵永强 ;

蒋冬舜 ;

陈胡建 .

中国专利 :CN109166507A ,2019-01-08

[3]

一种电学性能测试平台及方法 [P].

赵嵩煦 ;

张方 ;

黄文流 .

中国专利 :CN118504499B ,2024-12-27

[4]

一种电学性能测试平台及方法 [P].

赵嵩煦 ;

张方 ;

黄文流 .

中国专利 :CN118504499A ,2024-08-16

[5]

封装芯片电学性能的测试方法 [P].

梅萌 ;

史刚 ;

王培春 ;

李广峰 .

中国专利 :CN113539868A ,2021-10-22

[6]

电子元器件低温电学性能测试装置及方法 [P].

郭国平 ;

路腾腾 ;

李臻 ;

雒超 .

中国专利 :CN107589333A ,2018-01-16

[7]

一种电子元器件低温辐照电学性能测试装置及方法 [P].

潘瑜 ;

顾祥 ;

郭浩 ;

纪旭明 ;

王育铭 ;

李金航 ;

常瑞恒 ;

谢儒彬 .

中国专利 :CN121069066A ,2025-12-05

[8]

氮化镓衬底上生长栅介质的方法及电学性能测试方法 [P].

魏星 ;

曹铎 ;

狄增峰 ;

方子韦 .

中国专利 :CN103745923B ,2014-04-23

[9]

栅介质的电学性能的测试方法 [P].

魏星 ;

曹铎 ;

狄增峰 ;

方子韦 .

中国专利 :CN103745941B ,2014-04-23

[10]

电学性能检测装置 [P].

鄢巧明 ;

张玉萍 ;

黄亚君 .

中国专利 :CN209303243U ,2019-08-27

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