一种片式电子元器件浪涌测试治具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201922047877.7
申请日
2019-11-25
公开(公告)号
CN211293110U
公开(公告)日
2020-08-18
发明(设计)人
唐小馨 唐晓敏
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区前进二路桃源居17区1栋3单元16B
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611
代理人
伍华荣
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种片式元器件浪涌测试治具 [P]. 
陈增 ;
陈耀平 ;
李平 .
中国专利 :CN215180565U ,2021-12-14
[2]
一种电子元器件侧边针测试治具 [P]. 
胡华才 .
中国专利 :CN206193037U ,2017-05-24
[3]
电子元器件定位治具 [P]. 
康志强 .
中国专利 :CN201361832Y ,2009-12-16
[4]
一种电子元器件定位治具 [P]. 
向非 .
中国专利 :CN221455026U ,2024-08-02
[5]
一种电子元器件焊接治具 [P]. 
孔凡伟 ;
朱坤恒 ;
王福龙 .
中国专利 :CN207077141U ,2018-03-09
[6]
一种电子元器件电镀治具 [P]. 
董瑞 .
中国专利 :CN213061068U ,2021-04-27
[7]
一种电子元器件定位治具 [P]. 
周林 .
中国专利 :CN213136492U ,2021-05-07
[8]
一种电子元器件装配治具 [P]. 
陈志列 ;
赵南平 .
中国专利 :CN201846535U ,2011-05-25
[9]
一种电子元器件装配治具 [P]. 
宋静 ;
谭盛宗 .
中国专利 :CN220561394U ,2024-03-08
[10]
一种用于片式电子元器件测试的通用测试座 [P]. 
许安波 ;
陈喆 .
中国专利 :CN206362826U ,2017-07-28