重叠量测量装置和重叠量测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN201580039824.2
申请日
2015-07-23
公开(公告)号
CN106662429A
公开(公告)日
2017-05-10
发明(设计)人
塚本高弘
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01B1102
IPC分类号
B29D3030
代理机构
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
曾贤伟;郝庆芬
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
重叠测量方法 [P]. 
郭仁浩 ;
金真善 ;
李茂松 ;
李承润 ;
李汀镇 ;
黄灿 ;
朴道炫 ;
韩睿恩 .
韩国专利 :CN117855075A ,2024-04-09
[2]
重叠测量方法和使用其的重叠测量设备 [P]. 
崔交亨 ;
朴珍俊 .
中国专利 :CN101063829A ,2007-10-31
[3]
优化重叠测量条件的方法及使用重叠测量条件的重叠测量方法 [P]. 
金岛辉 ;
郭旻哲 ;
尹俊盛 ;
李汀镇 ;
李承润 ;
黄灿 .
韩国专利 :CN119247699A ,2025-01-03
[4]
重叠测量系统以及重叠测量装置 [P]. 
椙江政贵 ;
酒井计 .
中国专利 :CN114303039A ,2022-04-08
[5]
重叠测量系统以及重叠测量装置 [P]. 
椙江政贵 ;
酒井计 .
日本专利 :CN114303039B ,2024-01-09
[6]
磨耗量测量装置以及磨耗量测量方法 [P]. 
手岛俊行 ;
丰田千惠 .
中国专利 :CN111721196A ,2020-09-29
[7]
磨耗量测量装置以及磨耗量测量方法 [P]. 
手岛俊行 ;
丰田千惠 .
日本专利 :CN111721196B ,2025-03-18
[8]
采矿量测量装置及采矿量测量方法 [P]. 
穆祥 ;
王西来 ;
董伟胜 ;
刘文艳 ;
解仁 ;
刘朝晖 ;
苏新国 ;
王淑娟 .
中国专利 :CN104634426A ,2015-05-20
[9]
含尘量测量装置和测量方法 [P]. 
陈文哲 ;
胡小平 ;
詹媛媛 ;
张炜 ;
潘怀民 ;
郝培培 .
中国专利 :CN119915683A ,2025-05-02
[10]
光量测量设备和光量测量方法 [P]. 
兰宗树 ;
田名纲健雄 .
中国专利 :CN1940511A ,2007-04-04