解决半导体测试失败的半导体结构以及半导体测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610307798.3

申请日：

2016-05-11

公开(公告)号：

CN105977177A

公开(公告)日：

2016-09-28

发明(设计)人：

王鹏刘宇李秀莹

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

代理机构：

上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237

代理人：

屈蘅

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-10	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L 21/66 申请公布日:20160928
2016-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101684694025 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2016103077983 申请日:20160511
2016-09-28	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体测试结构以及半导体结构的测试方法 [P].

庄雅璇 ;

张维峻 ;

张幼弟 ;

黄清俊 ;

谈文毅 .

中国专利 :CN121215657A ,2025-12-26

[2]

半导体测试结构以及半导体测试方法 [P].

赵伟 ;

谷东光 .

中国专利 :CN118431201A ,2024-08-02

[3]

半导体测试结构及半导体测试方法 [P].

王帆 ;

方明海 ;

朱熙 ;

刘棋 ;

王威 .

中国专利 :CN117747596A ,2024-03-22

[4]

半导体测试结构及半导体测试方法 [P].

陈李萍 ;

易文玉 ;

李燕玲 .

中国专利 :CN115632044A ,2023-01-20

[5]

半导体测试结构及半导体测试方法 [P].

谷东光 ;

李留洋 .

中国专利 :CN117712096A ,2024-03-15

[6]

半导体测试结构及半导体结构的测试方法 [P].

薛美霞 ;

张倩倩 .

中国专利 :CN119400780A ,2025-02-07

[7]

半导体测试结构及半导体结构的测试方法 [P].

薛美霞 ;

张倩倩 .

中国专利 :CN119400780B ,2025-12-09

[8]

半导体结构及半导体测试方法 [P].

陈慧秀 ;

朱晓彤 .

中国专利 :CN120933275A ,2025-11-11

[9]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[10]

半导体测试结构及半导体结构 [P].

高学 ;

杜天伦 ;

吴姗姗 .

中国专利 :CN108766957A ,2018-11-06

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