光谱测量装置及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711430146.X

申请日：

2017-12-26

公开(公告)号：

CN107991237A

公开(公告)日：

2018-05-04

发明(设计)人：

张梦成学平刘爱江刘猛李梁

申请人：

申请人地址：

518100 广东省深圳市龙华新区观澜街道上坑社区观盛五路5号泰豪科技厂区1号楼南、西三楼

IPC主分类号：

G01N2101

IPC分类号：

G01N2125

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

石佩

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-04	公开	公开
2018-06-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20171226

共 50 条

[1]

光谱测量装置及系统 [P].

张梦 ;

成学平 ;

刘爱江 ;

刘猛 ;

李梁 .

中国专利 :CN207816795U ,2018-09-04

[2]

光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P].

郑云 ;

陈东 ;

余良军 .

中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02

[3]

光谱测量系统 [P].

周安萌 .

中国专利 :CN214372918U ,2021-10-08

[4]

反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置 [P].

吴晋龙 ;

刘海军 ;

韩浩 .

中国专利 :CN118168657B ,2024-12-03

[5]

反射光谱测量用光路系统及反射光谱测量装置 [P].

吴晋龙 ;

刘海军 ;

韩浩 .

中国专利 :CN118168657A ,2024-06-11

[6]

光谱测量系统 [P].

徐宁汉 ;

肖晓飞 ;

白本锋 ;

谭峭峰 ;

金国藩 .

中国专利 :CN103499391B ,2014-01-08

[7]

光谱测量系统 [P].

J·蒋 ;

M·斯科特 ;

E·若弗里翁 ;

A·凯布尔 .

中国专利 :CN107003232B ,2017-08-01

[8]

光谱测量系统 [P].

张文君 ;

翟保才 ;

董洪波 ;

许键 .

中国专利 :CN103424188A ,2013-12-04

[9]

光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[10]

光谱测量设备 [P].

吴万龙 ;

金颖康 ;

张永明 ;

王迎新 ;

陈猛 .

中国专利 :CN120369116A ,2025-07-25

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