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一种半导体制冷片温差测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202021503385.0
申请日：
2020-07-27
公开(公告)号：
CN212459488U
公开(公告)日：
2021-02-02
发明(设计)人：
陈文斌
申请人：
申请人地址：
344000 江西省抚州市临川区208省道才都工业园区(红星林场附近)
IPC主分类号：
G01N2520
IPC分类号：
代理机构：
南昌贤达专利代理事务所(普通合伙) 36136
代理人：
金一娴
法律状态：
专利权的终止
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-07-15 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 25/20 申请日:20200727 授权公告日:20210202 终止日期:20210727 |
| 2021-02-02 | 授权 | 授权 |