一种半导体制冷片温差检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121694797.1

申请日：

2021-07-23

公开(公告)号：

CN215338622U

公开(公告)日：

2021-12-28

发明(设计)人：

阮秀清阮秀沧朱立鋆

申请人：

申请人地址：

362100 福建省泉州市经济技术开发区孵化基地科技工业楼二楼A区

IPC主分类号：

G01K114

IPC分类号：

代理机构：

厦门原创专利事务所(普通合伙) 35101

代理人：

陈蓓蓓

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-28	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体制冷片温差检测装置 [P].

阮秀沧 ;

黄锦局 .

中国专利 :CN208672171U ,2019-03-29

[2]

一种半导体制冷片检测装置 [P].

陈兵 ;

邹兴文 ;

胡亚男 ;

龚俊林 .

中国专利 :CN222689433U ,2025-03-28

[3]

一种半导体制冷片检测装置 [P].

张金良 .

中国专利 :CN217034141U ,2022-07-22

[4]

半导体制冷片检测设备 [P].

黄其祥 .

中国专利 :CN108325877A ,2018-07-27

[5]

一种半导体制冷片性能检测装置 [P].

韩智强 ;

吴昌利 .

中国专利 :CN222506197U ,2025-02-18

[6]

一种半导体制冷片检测设备 [P].

钟水民 ;

金垚丞 ;

欧阳琦 ;

赖新建 .

中国专利 :CN218158019U ,2022-12-27

[7]

一种半导体制冷片检测设备 [P].

杨景龙 ;

代金生 .

中国专利 :CN218213281U ,2023-01-03

[8]

一种半导体制冷片温差发电实验装置 [P].

王建中 ;

杨成忠 ;

薛安克 ;

何晓峰 ;

陈张平 .

中国专利 :CN202444451U ,2012-09-19

[9]

一种半导体制冷片温差测试装置 [P].

耿靳财 ;

祁奇 ;

徐越 .

中国专利 :CN210464704U ,2020-05-05

[10]

一种半导体制冷片检测设备 [P].

熊妙 .

中国专利 :CN216880487U ,2022-07-05

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