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半导体制冷片检测设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201810049120.9
申请日：
2018-01-18
公开(公告)号：
CN108325877A
公开(公告)日：
2018-07-27
发明(设计)人：
黄其祥
申请人：
申请人地址：
325000 浙江省温州市瓯海区东方南路38号温州市国家大学科技园孵化器
IPC主分类号：
B07C5344
IPC分类号：
B07C502
B07C536
代理机构：
温州名创知识产权代理有限公司 33258
代理人：
陈加利
法律状态：
专利申请权、专利权的转移
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-05-11 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 IPC(主分类):B07C 5/344 登记生效日:20210428 变更事项:专利权人 变更前权利人:温州职业技术学院 变更后权利人:浙江胜华波电器股份有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:325000 浙江省温州市瓯海区东方南路38号温州市国家大学科技园孵化器 变更后权利人:325204 浙江省温州市瑞安市国际汽摩配产业园区 |
| 2019-05-17 | 授权 | 授权 |
| 2018-08-21 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/344 申请日:20180118 |
| 2018-07-27 | 公开 | 公开 |