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一种半导体制冷片检测设备
被引：0
申请号：
CN202221899907.2
申请日：
2022-07-23
公开(公告)号：
CN218158019U
公开(公告)日：
2022-12-27
发明(设计)人：
钟水民
金垚丞
欧阳琦
赖新建
申请人：
申请人地址：
314400 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区杭平路12号1号楼1楼、2楼
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3126
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-12-27 | 授权 | 授权 |