一种半导体制冷片的恒温定位检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420975039.4

申请日：

2024-05-07

公开(公告)号：

CN222545372U

公开(公告)日：

2025-02-28

发明(设计)人：

王一博曹卫强关庆乐甘平

申请人：

广东富信热电器件科技有限公司

申请人地址：

528305 广东省佛山市顺德区容桂街道华口居委会高新区（容桂）科苑三路20号之二

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R27/02

代理机构：

佛山市禾才知识产权代理有限公司 44379

代理人：

何慧敏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-28	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体制冷片的定位检测方法 [P].

王一博 ;

曹卫强 ;

关庆乐 ;

甘平 .

中国专利 :CN118518719A ,2024-08-20

[2]

半导体制冷片检测设备 [P].

黄其祥 .

中国专利 :CN108325877A ,2018-07-27

[3]

一种半导体制冷片检测设备 [P].

钟水民 ;

金垚丞 ;

欧阳琦 ;

赖新建 .

中国专利 :CN218158019U ,2022-12-27

[4]

一种半导体制冷片检测设备 [P].

杨景龙 ;

代金生 .

中国专利 :CN218213281U ,2023-01-03

[5]

一种半导体制冷片检测设备 [P].

熊妙 .

中国专利 :CN216880487U ,2022-07-05

[6]

半导体制冷片 [P].

陈国华 .

中国专利 :CN201655855U ,2010-11-24

[7]

半导体制冷片综合测试设备 [P].

陈文斌 ;

陈洪涛 .

中国专利 :CN209400606U ,2019-09-17

[8]

半导体制冷片温差检测装置 [P].

阮秀沧 ;

黄锦局 .

中国专利 :CN208672171U ,2019-03-29

[9]

半导体制冷片封装结构以及半导体制冷设备 [P].

李雄 ;

温从美 ;

曹向全 .

中国专利 :CN222750826U ,2025-04-11

[10]

一种半导体制冷片温差检测装置 [P].

阮秀清 ;

阮秀沧 ;

朱立鋆 .

中国专利 :CN215338622U ,2021-12-28

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