一种半导体制冷片检测设备

被引：0

申请号：

CN202220301804.5

申请日：

2022-02-15

公开(公告)号：

CN216880487U

公开(公告)日：

2022-07-05

发明(设计)人：

熊妙

申请人：

申请人地址：

511455 广东省广州市南沙区金茂东一街18号1501房(部位:C013)(仅限办公)

IPC主分类号：

B07C502

IPC分类号：

B07C5344 B07C536

代理机构：

深圳泛航知识产权代理事务所(普通合伙) 44867

代理人：

张智轶

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-05	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体制冷片检测设备 [P].

钟水民 ;

金垚丞 ;

欧阳琦 ;

赖新建 .

中国专利 :CN218158019U ,2022-12-27

[2]

一种半导体制冷片检测设备 [P].

杨景龙 ;

代金生 .

中国专利 :CN218213281U ,2023-01-03

[3]

半导体制冷片检测设备 [P].

黄其祥 .

中国专利 :CN108325877A ,2018-07-27

[4]

半导体制冷片封装结构以及半导体制冷设备 [P].

李雄 ;

温从美 ;

曹向全 .

中国专利 :CN222750826U ,2025-04-11

[5]

一种半导体制冷片温差检测装置 [P].

阮秀清 ;

阮秀沧 ;

朱立鋆 .

中国专利 :CN215338622U ,2021-12-28

[6]

一种半导体制冷片的恒温定位检测设备 [P].

王一博 ;

曹卫强 ;

关庆乐 ;

甘平 .

中国专利 :CN222545372U ,2025-02-28

[7]

半导体制冷片 [P].

李俊俏 ;

李永辉 ;

周维 .

中国专利 :CN212585241U ,2021-02-23

[8]

半导体制冷片 [P].

陈国华 .

中国专利 :CN201655855U ,2010-11-24

[9]

半导体制冷片 [P].

罗航宇 .

中国专利 :CN206497902U ,2017-09-15

[10]

一种半导体制冷片检测装置 [P].

张金良 .

中国专利 :CN217034141U ,2022-07-22

← 1 2 3 4 5 →