共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种半导体制冷片检测装置
被引：0
申请号：
CN202220473543.5
申请日：
2022-03-07
公开(公告)号：
CN217034141U
公开(公告)日：
2022-07-22
发明(设计)人：
张金良
申请人：
申请人地址：
223800 江苏省宿迁市宿迁经济技术开发区智能小家电产业园西区C6栋标准厂房
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R104
G01R102
代理机构：
宿迁市永泰睿博知识产权代理事务所(普通合伙) 32264
代理人：
孙丽丽
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-07-22 | 授权 | 授权 |