一种半导体制冷片温差测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921661388.4

申请日：

2019-10-07

公开(公告)号：

CN210464704U

公开(公告)日：

2020-05-05

发明(设计)人：

耿靳财祁奇徐越

申请人：

申请人地址：

215222 江苏省苏州市吴江区五方路208号（青云志）

IPC主分类号：

G01K308

IPC分类号：

代理机构：

苏州启华专利代理事务所(普通合伙) 32357

代理人：

徐伟华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-05	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体制冷片温差测试装置 [P].

陈天顺 .

中国专利 :CN215415154U ,2022-01-04

[2]

一种半导体制冷片温差测试装置 [P].

陈文斌 .

中国专利 :CN212459488U ,2021-02-02

[3]

一种半导体制冷片温差测试装置 [P].

秦国玉 ;

杨平 .

中国专利 :CN217954319U ,2022-12-02

[4]

半导体制冷片温差检测装置 [P].

阮秀沧 ;

黄锦局 .

中国专利 :CN208672171U ,2019-03-29

[5]

一种半导体制冷片的制冷量测试装置 [P].

陈天顺 .

中国专利 :CN205138681U ,2016-04-06

[6]

一种半导体制冷片温差检测装置 [P].

阮秀清 ;

阮秀沧 ;

朱立鋆 .

中国专利 :CN215338622U ,2021-12-28

[7]

一种半导体制冷片温差发电实验装置 [P].

王建中 ;

杨成忠 ;

薛安克 ;

何晓峰 ;

陈张平 .

中国专利 :CN202444451U ,2012-09-19

[8]

一种半导体制冷片 [P].

钟水民 ;

金垚丞 ;

欧阳琦 ;

赖新建 .

中国专利 :CN217274940U ,2022-08-23

[9]

一种半导体制冷片的工作性能测试装置 [P].

张国辉 ;

宋晓辉 ;

邬昌军 ;

郭胜会 ;

余娜娜 ;

张海军 ;

闫琼 ;

贾佳 .

中国专利 :CN117030790B ,2024-06-14

[10]

一种基于散热机构的半导体制冷片测试装置 [P].

耿靳财 ;

徐越 ;

祁奇 ;

莫雄峰 .

中国专利 :CN210626254U ,2020-05-26

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