控制箱及电路老化测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120716123.0

申请日：

2021-04-08

公开(公告)号：

CN215894836U

公开(公告)日：

2022-02-22

发明(设计)人：

张敏环刘维斌

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖技术开发区华工科技园创新基地18栋7层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京思格颂知识产权代理有限公司 11635

代理人：

吕露;杨超

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种老化测试控制箱 [P].

苏金龙 .

中国专利 :CN202676199U ,2013-01-16

[2]

老化测试箱及老化测试系统 [P].

陈剑晟 ;

沈冲 ;

王斌 ;

羡迪新 ;

陈驰 ;

高建辉 .

中国专利 :CN201716335U ,2011-01-19

[3]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379A ,2022-06-24

[4]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379B ,2025-02-11

[5]

测试控制箱 [P].

韩玉林 .

中国专利 :CN2849663Y ,2006-12-20

[6]

一种具有老化测试功能的温度控制箱 [P].

马长春 ;

孙得文 .

中国专利 :CN212781010U ,2021-03-23

[7]

一种具有老化测试功能的温度控制箱 [P].

梁绍凡 ;

沈繁年 .

中国专利 :CN220323076U ,2024-01-09

[8]

电缆控制电路、装置及电缆控制箱 [P].

李康 ;

许浩然 ;

贾江鑫 ;

朱志成 ;

朱成霞 ;

吴孟畅 ;

王庆阳 .

中国专利 :CN217213476U ,2022-08-16

[9]

老化测试机及老化测试系统 [P].

刘超 .

中国专利 :CN207215920U ,2018-04-10

[10]

控制箱面板及控制箱 [P].

朱增龙 ;

崔欣 ;

史冬冬 .

中国专利 :CN116017904B ,2025-12-12

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