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样本分析系统

被引：0
申请号：
CN202110518935.9
申请日：
2021-05-12
公开(公告)号：
CN115343486A
公开(公告)日：
2022-11-15
发明(设计)人：
蒋霞 邱凯宁 马然 陈世义
申请人：
申请人地址：
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区科技南12路迈瑞大厦
IPC主分类号：
G01N3500
IPC分类号：
代理机构：
北京磐华捷成知识产权代理有限公司 11851
代理人：
卜璐璐
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-11-15 公开 公开
共 50 条
[1]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305245B ,2024-04-19
[2]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
张军伟 ;
李学荣 .
中国专利 :CN112285357A ,2021-01-29
[3]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305246B ,2025-06-13
[4]
样本分析系统及样本分析方法 [P]. 
许自一 ;
肖建萍 ;
徐保重 ;
赵涛 .
中国专利 :CN114627986A ,2022-06-14
[5]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305246A ,2021-02-02
[6]
样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
郁琦 ;
张军伟 .
中国专利 :CN112305245A ,2021-02-02
[7]
样本分析系统及样本分析方法 [P]. 
张军伟 ;
郁琦 .
中国专利 :CN113376388A ,2021-09-10
[8]
样本分析系统以及样本分析方法 [P]. 
张军伟 .
中国专利 :CN113748345A ,2021-12-03
[9]
样本分析仪、样本分析方法和样本分析系统 [P]. 
张忠旭 ;
王玉亭 ;
方建伟 ;
赵丽文 .
中国专利 :CN119086405A ,2024-12-06
[10]
样本分析系统、样本分析仪及样本分析方法 [P]. 
余渊 .
中国专利 :CN114611086A ,2022-06-10
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