用于固定测头的测试框体

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520832464.9

申请日：

2015-10-26

公开(公告)号：

CN205067690U

公开(公告)日：

2016-03-02

发明(设计)人：

张旻郁

申请人：

申请人地址：

215316 江苏省苏州市昆山市玉山镇登云路268号国家级科技企业孵化器709

IPC主分类号：

G01R31327

IPC分类号：

G01M1300 G01R104

代理机构：

南京纵横知识产权代理有限公司 32224

代理人：

董建林;夏恒霞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-02	授权	授权
2017-12-15	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/327 申请日:20151026 授权公告日:20160302 终止日期:20161026

共 50 条

[1]

用于固定测头的测试框体 [P].

张旻郁 .

中国专利 :CN105277874A ,2016-01-27

[2]

电测测试头 [P].

刘利刚 .

中国专利 :CN205120920U ,2016-03-30

[3]

适用于按键寿命测试机的测头装置 [P].

张旻郁 .

中国专利 :CN202793759U ,2013-03-13

[4]

飞针测试机的测头机构 [P].

胡光初 .

中国专利 :CN201368888Y ,2009-12-23

[5]

飞针测试机的测头支架 [P].

谭艳萍 ;

王星 ;

廉成 ;

宋福民 ;

高云峰 .

中国专利 :CN202693624U ,2013-01-23

[6]

硬度测试计的测头与具有测头的硬度测试计 [P].

李信兴 ;

谢鸿钧 ;

陈泰吉 ;

罗任宴 .

中国专利 :CN201852755U ,2011-06-01

[7]

电测测试头 [P].

刘利刚 .

中国专利 :CN105277877A ,2016-01-27

[8]

一种用于按键寿命测试机的测头装置 [P].

雷勇 .

中国专利 :CN205643641U ,2016-10-12

[9]

一种用于键盘按键测试的电测测试头 [P].

谭志辉 .

中国专利 :CN105277878A ,2016-01-27

[10]

一种适用于按键测试机的测头结构 [P].

袁波 ;

刘玲 .

中国专利 :CN206248318U ,2017-06-13

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