用于固定测头的测试框体

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510700500.0
申请日
2015-10-26
公开(公告)号
CN105277874A
公开(公告)日
2016-01-27
发明(设计)人
张旻郁
申请人
申请人地址
215316 江苏省苏州市昆山市玉山镇登云路268号国家级科技企业孵化器709
IPC主分类号
G01R31327
IPC分类号
G01M1300 G01R104
代理机构
南京纵横知识产权代理有限公司 32224
代理人
董建林;夏恒霞
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
用于固定测头的测试框体 [P]. 
张旻郁 .
中国专利 :CN205067690U ,2016-03-02
[2]
电测测试头 [P]. 
刘利刚 .
中国专利 :CN205120920U ,2016-03-30
[3]
电测测试头 [P]. 
刘利刚 .
中国专利 :CN105277877A ,2016-01-27
[4]
一种用于键盘按键测试的电测测试头 [P]. 
谭志辉 .
中国专利 :CN105277878A ,2016-01-27
[5]
适用于按键寿命测试机的测头装置 [P]. 
张旻郁 .
中国专利 :CN202793759U ,2013-03-13
[6]
适用于按键寿命测试机的测头装置 [P]. 
张旻郁 .
中国专利 :CN102998615A ,2013-03-27
[7]
飞针测试机的测头机构 [P]. 
胡光初 .
中国专利 :CN201368888Y ,2009-12-23
[8]
飞针测试机的测头支架 [P]. 
谭艳萍 ;
王星 ;
廉成 ;
宋福民 ;
高云峰 .
中国专利 :CN202693624U ,2013-01-23
[9]
一种用于按键寿命测试机的测头装置 [P]. 
雷勇 .
中国专利 :CN205643641U ,2016-10-12
[10]
键盘按键电性能测试用的电测测试头 [P]. 
谭志辉 .
中国专利 :CN105277879A ,2016-01-27