一种用于键盘按键测试的电测测试头

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专利类型
发明
申请号
CN201510701002.8
申请日
2015-10-26
公开(公告)号
CN105277878A
公开(公告)日
2016-01-27
发明(设计)人
谭志辉
申请人
申请人地址
215300 江苏省苏州市昆山城北区国际模具城材料区13栋1号
IPC主分类号
G01R31327
IPC分类号
代理机构
南京纵横知识产权代理有限公司 32224
代理人
董建林
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
键盘按键电性能测试用的电测测试头 [P]. 
谭志辉 .
中国专利 :CN105277879A ,2016-01-27
[2]
电测测试头 [P]. 
刘利刚 .
中国专利 :CN205120920U ,2016-03-30
[3]
电测测试头 [P]. 
刘利刚 .
中国专利 :CN105277877A ,2016-01-27
[4]
用于测试键盘按键的测试结构及键盘按键的测试装置 [P]. 
刘孝国 .
中国专利 :CN215931268U ,2022-03-01
[5]
一种键盘测试按键敲击头 [P]. 
陈晏 .
中国专利 :CN209560044U ,2019-10-29
[6]
一种用于测试EPP键盘按键寿命的机构 [P]. 
王书霞 ;
江浩然 ;
张云峰 ;
王淑萍 ;
李烨 .
中国专利 :CN211877363U ,2020-11-06
[7]
一种键盘按键测试机 [P]. 
刘利刚 ;
谭志辉 .
中国专利 :CN208689137U ,2019-04-02
[8]
键盘电性和过灵敏测试机 [P]. 
刘利刚 .
中国专利 :CN204903717U ,2015-12-23
[9]
用于固定测头的测试框体 [P]. 
张旻郁 .
中国专利 :CN205067690U ,2016-03-02
[10]
用于固定测头的测试框体 [P]. 
张旻郁 .
中国专利 :CN105277874A ,2016-01-27