在容器中成像的样品微层析成像中的射束硬化伪像的校正

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201580054727.0
申请日
2015-08-15
公开(公告)号
CN107209944A
公开(公告)日
2017-09-26
发明(设计)人
J·J·霍尔特 A·M·金斯顿 A·P·谢泼德
申请人
申请人地址
美国俄勒冈州
IPC主分类号
G06T1100
IPC分类号
代理机构
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
郑勇
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
X射线暗场成像中的射束硬化校正 [P]. 
A·亚罗申科 ;
H-I·马克 ;
T·克勒 ;
F·德马尔科 ;
L·B·格罗曼 ;
K·维勒 ;
P·诺埃尔 .
中国专利 :CN110636796A ,2019-12-31
[2]
用于软场层析成像中伪影抑制的系统和方法 [P]. 
A·S·罗斯 .
中国专利 :CN102599905A ,2012-07-25
[3]
光学相干层析成像中的色散补偿系统 [P]. 
丁志华 ;
李栋 ;
孟婕 ;
王凯 ;
王玲 ;
杨亚良 ;
黄刚 .
中国专利 :CN200957082Y ,2007-10-10
[4]
用于扫描暗场和相位对比成像的射束硬化校正 [P]. 
T·克勒 ;
H·德尔 ;
E·勒斯尔 .
中国专利 :CN107567640B ,2018-01-09
[5]
层析成像的重建方法 [P]. 
孔明明 ;
李冬东 ;
赵辉 .
中国专利 :CN105096357A ,2015-11-25
[6]
用于校正软场层析成像中故障状况的系统和方法 [P]. 
A·S·罗斯 .
中国专利 :CN102697497A ,2012-10-03
[7]
使用射束层析成像进行地震成像和地层建模的方法和系统 [P]. 
N·R·希尔 .
中国专利 :CN102667529A ,2012-09-12
[8]
光学微层析成像的焦平面跟踪 [P]. 
M·E·福韦 ;
E·J·赛贝尔 ;
M·G·梅耶尔 ;
A·C·尼尔森 ;
R·J·拉恩 ;
T·诺伊曼 ;
R·H·约翰逊 .
中国专利 :CN101536016B ,2009-09-16
[9]
傅立叶域光学相干层析成像系统中的成像目标移动补偿 [P]. 
米格尔·安吉尔·普雷西亚多 ;
伊万·赖克罗夫特 .
英国专利 :CN118203301A ,2024-06-18
[10]
脉冲型电子束的层析成像系统 [P]. 
胡静 .
中国专利 :CN222105650U ,2024-12-03